Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #9096140 zu verkaufen

ID: 9096140
Surface profiler Motorized stage Video camera Monitor Computer Does not include factory options.
VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 ist ein Wafer-Prüf- und Messsystem zur Messung der Oberflächentopologie von Halbleiter- und anderen Materialien. Es verwendet eine einzigartige Stifttechnik, um Genauigkeit und Wiederholbarkeit sowohl in vertikalen als auch in lateralen Messungen zu gewährleisten. VEECO DEKTAK 3030 verfügt über eine Stufe, die Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm aufnehmen kann und eine große Probenfläche bietet. Der Stift wurde entwickelt, um Stöße auf der Oberflächenschicht des Wafers mit einer vertikalen Auflösung von 0,30 μ m und einer seitlichen Auflösung von 0,50 μ m zu messen. Der Stift ist mit einem piezoelektrischen Element gekoppelt, das bei präzisen Messungen über die Probe hilft. Der Stift hat eine federbelastete Druckstange, die bei Messungen Umweltschwingungen beseitigt. Eine einzigartige Kontaktsensortechnologie wird von SLOAN DEKTAK 3030 verwendet, um einen konstanten Stiftdruck auf der Waferoberfläche aufrechtzuerhalten. Fortschrittliche Elektronik hinter dem Kontaktsensor bietet auch einen automatischen Stiftauftrieb durch algorithmusgesteuerte Ansätze. Das System enthält auch ein abgeschirmtes Gehäuse, um einen kontrollierten Luftstrom bereitzustellen und externe Störungen zu begrenzen, und einen farbigen LCD-Monitor für eine einfache Bedienung. DEKTAK 3030 bietet empfindliche und exakte Messungen von Abmessungen und Formen von Oberflächenmerkmalen wie Schritthöhe, kritische Dimension, Rauheit und Ecken-/Kantenschärfe. Es kann Messungen an praktisch jedem Wafertyp in jedem Zustand durchführen, so dass es ideal für eine Vielzahl von messtechnischen Anwendungen ist. VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 hat mehrere einzigartige Merkmale, wie die Fähigkeit, dreidimensionale Formen zu messen, durch seine Kombination aus mechanischer Präzision und optischer Technologie. Es bietet hochgenaue statistische und wiederholbare Messungen, die internationalen Metrologiestandards wie ISO 9001 entsprechen. Um eine zuverlässige Datenerfassung zu gewährleisten, verfügt es über eine breite Palette statistischer Algorithmen, die Profile aus Datenpunkten analysieren und berechnen. VEECO DEKTAK 3030 bietet auch Software-Innovationen wie eine intuitive grafische Benutzeroberfläche für einfache Bedienung. Es hat auch eine Reihe von automatisierten Funktionen, einschließlich automatischer Stiftanhebung für verbesserte Sicherheit und Datenintegrität. Unterstützt eine Reihe von Computer-Schnittstellen, kann es einfach in bestehende Messtechnik-Systeme integriert werden. Insgesamt ist SLOAN DEKTAK 3030 ein fortschrittliches, funktionsreiches Wafertest- und Messtechniksystem, das entwickelt wurde, um die Oberflächentopologie von Halbleiter- und anderen Materialien mit überlegener Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen. Seine fortschrittliche Elektronik, integrierte Abschirmung und umfassende Software machen es zu einer vielseitigen Wahl für eine breite Palette von messtechnischen Anwendungen.
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