Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #9247712 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 ist eine vielseitige, fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die den Anforderungen der Halbleiterindustrie gerecht wird. Es ist ideal für die Forschung und Charakterisierung von Wafern, MEMS-Geräten und verschiedenen anderen Technologien. VEECO DEKTAK 3030 ermöglicht Wafer-Tests und Messtechnik durch eine Kombination aus mehrfacher Oberflächenbildgebung, Oberflächenscannung und Tiefenerfassung und verwendet fortschrittliche Algorithmen, um eine optimale Genauigkeit zu erreichen. Es bietet 3D-Topographie, 3D-Oberflächenscannen und Kriechkraftmessungen für Scanmikroskopie (SPM) -Anwendungen. Das System verwendet ein optisches Profilometer mit variabler Wellenlänge, um hochauflösende Bilder von Wafern mit einer maximalen Schritthöhe von 2 Mikrometern und einer Tiefenauflösung von 0,5 Nanometern zu erzielen. Die Genauigkeit von Spitze zu Tal beträgt 1 Nanometer, während die laterale Auflösung 0,2 Mikrometer beträgt. Darüber hinaus bietet SLOAN DEKTAK 3030 Platz für bis zu vier Wafer für Tests und simultane Bildgebung. DEKTAK 3030 verfügt über eine 5-Achsen-Stufe, die Wafer mit bis zu 5 mm vertikalem Abstand und einer horizontalen Auflösung von 0,15 Nanometer scannen kann. Die Probenstufe kann auch verschiedene Probengrößen während einzelner Testläufe verarbeiten. VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 verfügt auch über eine fortschrittliche Bildgebungssoftware, die hoch anpassbar ist, um die spezifischen Anforderungen einer Vielzahl von Anwendungen zu erfüllen. Die Software bietet umfassende Bildverarbeitungsfunktionen und kann so eingestellt werden, dass die Ergebnisse automatisch nach benutzerdefinierten Kriterien gemeldet werden. Dies ermöglicht eine vergleichende Analyse zwischen verschiedenen Bildern und hilft bei der Ermittlung von Fehlern und Defekten. Das Gerät verfügt auch über spezielle Rasterkraftmikroskopie (SFM) -Sonden, die eine breite Palette von Kraft einschließlich Kontakt, Ausleger und Kriechkräfte messen können. Dies ermöglicht die Charakterisierung der Materialeigenschaften auf Nanometerebene. Die Maschine ist mit Software zur Analyse von Auslegerkraft gegen Verschiebungskurven ausgestattet, die eine direkte Messung von Materialeigenschaften wie Jungmodul und Härte ermöglicht. VEECO DEKTAK 3030 ist ein leistungsstarkes Werkzeug für die Halbleiterindustrie, das eine detaillierte Untersuchung einer Vielzahl von Materialien und Oberflächenprofilen bereitstellen kann. Es bietet erweiterte bildgebende Fähigkeiten und Analyse von Materialeigenschaften, um die Entwicklung und Charakterisierung von Wafern, MEMS-Geräten und anderen Technologien zu unterstützen.