Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #293725380 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST wafer testing and metrology equipment ist eine fortschrittliche Plattform, die es Anwendern ermöglicht, eine Vielzahl von elektrischen, optischen und oberflächenbezogenen Eigenschaften von Halbleitersubstraten zu messen. Das System nutzt die Leistung der Piezo-basierten Oberflächenprofilometrie, um Oberflächentopographie und Oberflächenrauhigkeit bei einer hohen Auflösung von 1 nm genau zu messen. Es bietet auch erweiterte Segmentierungsfunktionen, um dicke Resist- oder tiefe Gräben zu profilieren. Um die Präzision zu verbessern, verwendet das Gerät eine Messtechnik-Vorrichtung, um Halbleiterwaferparameter stereoskopisch zu messen und zu analysieren. VEECO DEKTAK 3ST umfasst auch die automatisierte Bilderfassung großer Oberflächen auf Halbleitersubstraten und ermöglicht so zuverlässigere Produkte und effizientere Produktionsprozesse. Soft Touch Imaging ermöglicht eine verbesserte Bildgebung empfindlicher Oberflächen und liefert präzisere Ergebnisse mit minimaler Kraft. Automatisierte Mapping-Funktionen ermöglichen computergesteuerte Scans ganzer Substratoberflächen in vorbestimmten Mustern, was eine schnellere und effizientere Analyse ermöglicht. Der mehrachsige Schrittmotor von SLOAN DEKTAK 3 ST ist in der Lage, Substrate mit einem Durchmesser von bis zu 8 Zoll zu messen und verfügt über erweiterte programmierbare/mehrstufige Scanmuster-Funktionen. Die Maschine verfügt außerdem über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche mit einer Reihe von Bildschirmsymbolen, die eine einfache Bedienung des Werkzeugs ermöglichen. Neben dem breiten Spektrum an Funktionen ermöglicht das Asset dem Anwender auch die Anpassung der Wafermessungen mit der Fähigkeit, die Messung basierend auf den gegebenen Anwendungen weiter anzupassen. Es ist für schnelle und einfache Kalibrierung und Wartung ausgelegt, wodurch ein störungsfreier Betrieb möglich ist. Eine Vielzahl zusätzlicher Funktionen, einschließlich Kratzerkennungs- und Fehleranalysefunktionen, tragen dazu bei, dass sie sowohl für Forschungsumgebungen als auch für Fertigungsumgebungen geeignet sind. VEECO DEKTAK 3 ST ist ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messtechnikmodell, das hohe Genauigkeit und Benutzerflexibilität bietet, um die Produktzuverlässigkeit zu verbessern und die Produktionskosten zu senken. Dank der automatisierten Kartierungs- und Bildgebungsfunktionen, der intuitiven grafischen Benutzeroberfläche und der breiten Palette an Funktionen eignet es sich gut für die Messung einer Vielzahl von Eigenschaften in Halbleitersubstraten. Das System kann für eine Reihe von Anwendungen wie Fehlererkennung, Fehleranalyse und Geräteoptimierung verwendet werden.