Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #293817112 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST ist eine fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die die neueste, fortschrittliche optische Bildgebungstechnologie zur Messung und Analyse von Halbleiterscheiben und anderen Mikrostrukturen verwendet. VEECO DEKTAK 3ST bietet eine modulare Plattform, die es dem Anwender ermöglicht, das System an seine individuellen Bedürfnisse und Anwendungen anzupassen. SLOAN DEKTAK 3 ST verwendet eine Kombination aus hochgenauen optischen und taktilen Sondierungstechniken sowie in situ Meta-Material-Bildgebungsfähigkeiten, um detaillierte Wafer-Testergebnisse zu erzielen. Die hochgenauen optischen Sondierungstechniken messen die dreidimensionale (3D) Form von Zellen, Analyten und Flecken. Die feine Steuerung der optischen Sonden ermöglicht es dem Benutzer, auch die kleinsten Muster und Details genau zu messen. Dies ermöglicht schnelle, hochgenaue und reproduzierbare Messungen mehrerer Strukturen auf jeder Halbleiterscheibe oder Mikrostruktur. Durch die Feinsteuerung der optischen Sonden entfallen auch manuelle Profilkorrekturen oder Modifikationen. VEECO DEKTAK 3 ST verwendet eine x/y/z Scantechnik, die in der Lage ist, verschiedene Substrate wie Saphirsubstrate, Metalle und Polymere mit einer hohen Auflösung und Genauigkeit zu scannen. SLOAN DEKTAK 3ST bietet auch die Möglichkeit, elektrischen Widerstand auf Halbleiterscheiben zu messen. Dies in Kombination mit den in situ Meta-Material-Abbildungsfähigkeiten bietet dem Anwender eine vollständige Charakterisierung und Produktionsanalyse der Halbleiterscheiben und anderer Mikrostrukturen. VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST ist eine benutzerfreundliche Einheit mit einer grafischen Benutzeroberfläche, mit der der Benutzer die Maschine einfach für seine spezifische Anwendung konfigurieren kann. Die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglicht die gleichzeitige Analyse mehrerer Wafer und kann auch zur Messung von Testmerkmalen und zur Überprüfung von Unregelmäßigkeiten in Produktionsprozessen verwendet werden. Insgesamt ist DEKTAK 3ST ein fortschrittliches Wafertest- und Metrologiewerkzeug, das Anwendern die Möglichkeit bietet, eine Vielzahl von Halbleiterscheiben und Mikrostrukturen schnell und genau zu analysieren. DEKTAK 3 ST bietet dem Anwender mit seiner Kombination aus hochgenauer optischer Sondierung, in-situ Meta-Material-Bildgebung und x/y/z Scanfähigkeit vielseitige Charakterisierungs- und Produktionsanalysefähigkeiten. Die benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche ermöglicht eine einfache Konfiguration und Bedienung und macht VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST eine wertvolle Ergänzung zu jeder Anwendung von Halbleitern oder Mikrostrukturen.