Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #9070971 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST Wafer-Prüf- und Messtechnik ist ein hochgenaues und zuverlässiges System zur Messung und Analyse von Halbleiterbauelementen und -strukturen im Wafer-Maßstab. Das Gerät ist für den Einsatz in Forschung und Entwicklung oder in der Produktion konzipiert, wo Genauigkeit und Wiederholbarkeit kritisch sind. Es ist perfekt für die Messung von Einzelwafermessungen auf einer Vielzahl von Wafermaterialien, einschließlich Silizium, Galliumarsenid und anderen. VEECO DEKTAK 3ST kombiniert Kontaktprofilometer und berührungslose Oberflächenrauhigkeitsmessungen. Dazu gehört die Verwendung einer mechanischen Tastsonde zur Bestimmung der Oberflächentopographie und zur Berechnung der Schritthöhe. Es verwendet auch einen optischen berührungslosen Laserverschiebungssensor, um das Oberflächenprofil, die mittlere Rauheit und andere Parameter zu messen. Die Maschine ist hochpräzise und kann bis zu 100nm vertikale Auflösung messen. Das Tool bietet eine breite Palette von Wafer-Testfunktionen, darunter automatisierte Probenausrichtung, berührungslose Oberflächenanalyse, Kontaktstift-Scan und erweiterte Datenerfassungs- und Analysetools. Es beinhaltet eine softwarebasierte Schnittstelle für automatisierte Prozesssteuerung und Profilometrie-Reporting. SLOAN DEKTAK 3 ST kann für 1D- oder 2D-Scan sowie zeitgemittelte Glättung und fortschrittliche statistische Analyse verwendet werden. SLOAN DEKTAK 3ST verfügt über erweiterte Fähigkeiten, einschließlich der Fähigkeit, größere Wafer zu handhaben, die Verwendung mehrerer Sonden und Sensoren für mehr Flexibilität und die Fähigkeit, 3D-Messungen durchzuführen. Es verfügt außerdem über integrierte Funktionen zum schnellen Scannen und Analysieren der gesamten Waferoberfläche. Es ist mit einer Vielzahl von automatisierten Wafer-Handling-Systemen kompatibel und kann in manuellen oder automatisierten Umgebungen verwendet werden. VEECO DEKTAK 3 ST umfasst hochmoderne Sicherheitsmerkmale, wie einen beiliegenden Schild für den Benutzerschutz, austauschbare Sonden für verschiedene Anwendungen, einen staubdichten Abdeckdeckel sowie einfache Wartungs- und Kalibrierungsfunktionen. Das Asset ist robust und zuverlässig und ermöglicht konsistente, wiederholbare Ergebnisse. Es ist eine beliebte Wahl für messtechnische Anwendungen, einschließlich Fehleranalyse, Modellcharakterisierung, Automobilprüfung, Designüberprüfung, Dünnschichtcharakterisierung und Wafer-Qualitätssicherung. Insgesamt ist VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST eine fortschrittliche, hochzuverlässige Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die präzise Messungen von Halbleiterkomponenten auf einem Wafer-Maßstab in einer Vielzahl von Anwendungen bereitstellen kann. Seine Fähigkeit, große Wafer zu handhaben, mehrere Sonden und Sensoren anzubieten, 1D- und 2D-Scans und -Analysen durchzuführen und das schnelle Scannen und Analysieren der gesamten Waferoberfläche zu ermöglichen, machen es zu einer idealen Wahl für Anwendungen in Forschung und Entwicklung, Produktion und Messtechnik.