Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #9192102 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST ist eine moderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die mit immersiven technischen Eigenschaften entwickelt wurde, die Präzision und Genauigkeit bei der Analyse von Wafern bieten. Es verfügt über ein umfangreiches Spektrum an erweiterten Messfähigkeiten für erweiterte Wafertest- und messtechnische Anwendungen. Ausgehend von der Hardware verfügt VEECO DEKTAK 3ST über den branchenüblichen hochauflösenden Kapazitätsverdrängungskopf VEECO für Präzision und Genauigkeit. Es ist mit einer modularen Plattform konzipiert, die eine hochgenaue, hochpräzise motorisierte Z-Stufe für Probenbewegungen beinhaltet. Der Messwertkopf und die Z-Stufe sind mit dem Messwertregler verbunden, der über eine leistungsstarke grafische Benutzeroberfläche verwaltet wird. SLOAN DEKTAK 3 ST verfügt auch über erweiterte Messfunktionen wie automatisierte Merkmalserkennung und schnelle Scangeschwindigkeit für genaue Charakterisierungen. Es ist in der Lage Topographie mit Schritthöhen so niedrig wie 10nm zu erkennen und verfügt über eine ausgezeichnete Linearität und Dynamikbereich. Mit der patentierten AED-Technologie (Advanced Endpoint Detection) des Systems wird die Beispielform am Endpunkt jeder Scansitzung genau lokalisiert. DEKTAK 3 ST bietet zudem eine verbesserte Z-Achsen-Kalibriergenauigkeit und sorgt für konsistentere und zuverlässigere Testergebnisse. Das Gerät bietet auch eine Vielzahl von Optionen je nach Anwendungsbedarf. Es bietet hochauflösende optische und rasternde akustische Mikroskopfähigkeiten, so dass es ideal für erweiterte Gerätecharakterisierung, 3D-Oberflächenmessungen und Fehleranalyse ist. Es ist auch mit schwingungsarmer Isolation entwickelt, um Hochleistungsdatenstabilität zu bieten. In Bezug auf Software, VEECO DEKTAK 3 ST verfügt über eine umfassende Suite von Software-Utilities, die Analyse, Datenspeicherung und Reporting-Funktionen bieten. Die Software umfasst 3D-Bildgebung, automatische Wafer-Map-Nähte, automatische Mustererkennung und Fehleranalyseprogramme, die die leistungsstarke Hardware der Maschine nutzen. Das Werkzeug ermöglicht die Analyse von Waferstufenhöhen, Oberflächentopographie und Gleichmäßigkeit, Folienbelastung, Staubkörnigkeit und anderen Eigenschaften. Die Software umfasst auch Datenspeicher- und Reporting-Tools zur Erfassung von Testergebnissen. Insgesamt ist DEKTAK 3ST ein fortschrittliches Gerät für Wafertests und Messtechnik, das eine präzise und genaue Analyse von Wafern bietet. Es verfügt über einen hochauflösenden Messkopf, eine motorisierte Z-Stufe und eine umfassende Software-Suite zur Datenspeicherung, Analyse und Berichterstattung. VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST ist ein unschätzbares Gut für Hochleistungsanwendungen, die zuverlässige Daten und eine genaue Charakterisierung der Gerätegeometrien erfordern.