Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #9210179 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST ist eine vollautomatische, präzise und zuverlässige Waferinspektions- und Messtechnik für die Halbleiterindustrie. VEECO DEKTAK 3ST bietet Präzision in einer Vielzahl von Stufen, von der Grundinspektion bis hin zur fortgeschrittenen Profilierung. Es ist eine Direktantriebs- und Niederdruck-Wafer-Prüfmaschine mit robuster Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Die Maschine dient zur Inspektion der Oberfläche und Topographie von Wafern. Es ist mit einem einfachen zweiachsigen optischen System ausgestattet, das ein Laserinterferometer zur Messung von Höhe, Dicke und anderen Eigenschaften empfindlicher Wafer verwendet. Das Gerät bietet eine Reihe von Merkmalen wie berührungslose Oberflächenprofilometrie, Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Partikelbildgeschwindigkeitsmessung (PIV) und Wirbelstromprüfung (ECI). SLOAN DEKTAK 3 ST ist auch in der Lage, direkt auf die Waferoberfläche abzubilden. SLOAN DEKTAK 3ST 's fortschrittliche Profilometrie und Scanfunktionen machen es zur idealen Maschine für die Oberflächenanalyse. Mit einem integrierten Vision-Tool erfasst die Maschine Informationen auf Nanometerebene über die Oberfläche des Wafers und verarbeitet sie zu Datenpunkten. Anschließend werden verschiedene mathematische Algorithmen angewendet, um die Eigenschaften des Wafers abzubilden und 3D-Modelle mit atemberaubenden Real Time 3D Imaging (RT3D) Simulationen, vollständigen Berichten und Formaten zu generieren, die leicht gemeinsam genutzt oder in CAD-Tools, Prozesssteuerungssysteme und Analysesysteme importiert werden können. VEECO DEKTAK 3 ST wird mit der Unterdruckoberfläche profilometry Verhaftungen ausgestattet, der es Ideal für Hodurchflussinspektionen und Analyse macht. Die Niederdruckfähigkeit gewährleistet ein breites Spektrum an Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Messung empfindlicher Wafer. Dieses wichtige Angebot macht VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST zur idealen Wahl für die Nanometer-Oberflächenmesstechnik und -inspektion. Abschließend ist DEKTAK 3 ST ein fortschrittliches Wafer-Test- und Metrologie-Asset, das für Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Durchsatz optimiert ist. Die Maschine ist in der Lage, Oberflächen- und topographische Eigenschaften mit Nanometergenauigkeit zu erfassen, und ihre Niederdruckprofilierung bietet eine große Genauigkeit für empfindliche Wafer. Mit einer umfassenden Palette von Profilometrie und Datenerfassungswerkzeugen ist DEKTAK 3ST das ideale Modell für die fortschrittliche Oberflächenanalyse.