Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 6M #9006097 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 6M Wafer-Prüf- und Messtechnik ist eine leistungsstarke und effiziente Möglichkeit, die Oberflächenqualität von Halbleitern und anderen dünnen Schichten zu testen und zu messen. Dieses System verwendet eine fortschrittliche Quarzkristallbilanz, um Schritthöhen, Topographien, zweidimensionale Oberflächenprofile und spezifische Fehlerstellen an Proben mit einer Auflösung von 0,0668 µm (0,000261 in) zu messen. Die hochauflösende Messung wird durch eine patentierte Kapazitätsbrückenbasierte Quarzkristallbilanz erreicht, die eine sehr geringe Rauschleistung und hohe Empfindlichkeit bei ausgezeichneter Wiederholbarkeit und Langzeitstabilität erreichen kann. Das Gerät verfügt über einen einstellbaren Messbereich von bis zu 10 mm (0,394 Zoll) und verfügt über einen geringen Platzbedarf, der in die meisten Laboreinstellungen passt. Es enthält auch einen integrierten Schwingungsisolator, um den Geräuschpegel zu reduzieren und genaue Messungen zu gewährleisten. Die Quarzkristallbilanz besteht aus Materialien, die hohen Temperaturen und Umweltbelastungen widerstehen, ohne die kristalline Struktur abzubauen, und wird für Messungen bis zu 1600 ° C (2912 ° F) bewertet. Die Maschine ist mit einem hochauflösenden grafischen LCD-Touchscreen ausgestattet, der eine einfache Einrichtung und Navigation ermöglicht, um schnell Messungen vorzunehmen und Daten aufzuzeichnen. VEECO DEKTAK 6M kann verwendet werden, um bis zu fünf Parameter in seinem internen Speicher zu speichern und ist mit einem USB-Anschluss zum Anschluss an ein Tool zur Datenspeicherung, -analyse und -berichterstattung ausgestattet. Zusätzlich kann eine Trockenluftspülung verwendet werden, um Korrosion bei Hochtemperaturprozessen zu reduzieren. Das Modell ist für eine Vielzahl von Wafermesstechnik und Testanwendungen konzipiert, einschließlich Dünnschichtdickenmessungen, Oberflächenrauhigkeit, Fehlererkennung und Zusammensetzungsanalyse. Darüber hinaus können die Geräte verwendet werden, um die elektrischen Eigenschaften von Wafern mit ihrer eingebauten elektrischen Messfunktion zu untersuchen. Alle Messparameter können über die SLOAN DEKTAK 6M Software verwaltet und in verschiedenen Dateiformaten exportiert werden. Dieses vielseitige und leistungsstarke System ist eine große Bereicherung für jedes Labor, das genaue und wiederholbare Wafertests und Messtechnik benötigt.