Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 8 #9006095 zu verkaufen

VEECO / SLOAN DEKTAK 8
ID: 9006095
Surface profiler.
VEECO/SLOAN DEKTAK 8 ist eine anspruchsvolle Wafer-Prüf- und Messtechnik, die sowohl für F&E als auch für Produktionsumgebungen entwickelt wurde. Es verfügt über eine leistungsstarke x-y Scan-Engine und einfach zu bedienende Software, die anspruchsvolle Datenverarbeitungs- und Analysefunktionen bietet. Das System kann Profil, Oberfläche, Stufenhöhe, Ebenheit und kritische Abmessungen von 200 mm, 150 mm, 75 mm und 50 mm Wafer bis 30 µm Dicke genau messen. Ein Hochgeschwindigkeits-Z-Achsen-Antrieb steuert den Scanner und bietet eine Auflösung von bis zu 0,4 µm. Der Scanner verfügt außerdem über eingebaute Sensoren zur Kompensation der Oberflächenverformung des geprüften Wafers. Die Software von VEECO DEKTAK 8 bietet eine Reihe automatischer Waferanalysefunktionen, einschließlich der Messung von Overlays, kritischen Dimensionen (CDs), Reflektivität und Schritthöhen. Es umfasst auch eine automatisierte Konturausrichtung, die den Wafer-Mapping-Prozess für erhöhte Genauigkeit optimiert. Die Software unterstützt auch den direkten Import oder Export von Daten über eine verfügbare API, um eine komfortable Integration mit anderen Systemen wie Prozesssimulation und Gerätesteuerung zu ermöglichen. Das Gerät verfügt über eine anpassbare und einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche sowie eine Auswahl an erweiterten Hardware- und Softwarefunktionen. So nutzt die Maschine ein großes Touchscreen-Display und Bedienfeldsteuerungen für eine vereinfachte Bedienung und ein fortschrittliches High-Speed-Video-Subsystem, das eine Querschnittsansicht des Wafers zur genaueren Auswertung ermöglicht. SLOAN DEKTAK 8 bietet zusätzliche Funktionen zur Steigerung der Effizienz, wie hohe Produktivität Testmodi und schnelle Druckfunktionen. Es unterstützt auch rückverfolgbare Messungen und führt Aufzeichnungen aller Messungen zur zuverlässigen Datenverfolgung. DEKTAK 8 Wafer Test und Messtechnik-Tool ist ein fortschrittliches Werkzeug für präzise Wafer Auswertung und Analyse. Mit seinen genauen Messungen, der benutzerfreundlichen Benutzeroberfläche und den hervorragenden Test- und Verfolgungsfunktionen bietet es eine leistungsstarke Lösung für verbesserte Wafertests und Messtechnik.
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