Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 8 #9298939 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 8 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein wertvolles Werkzeug für die Prüfung und Analyse von Wafern zur Qualitätskontrolle und -sicherung. Dieses System verwendet die Rastertunnelmikroskopie (STM) -Technologie, um hochgenaue Messungen der Oberfläche eines Wafers zu erzeugen. Mit einer 3-achsigen, hochauflösenden Stufe und überlegenen optischen und digitalen Systemen bietet diese Einheit eine wiederholbare Oberflächenanalyse mit hoher Genauigkeit. Das Hauptziel der Maschine VEECO DEKTAK 8 besteht darin, die Oberflächentopographie eines Wafers zu messen und zu analysieren, Fehler- und Fehlertrends zu identifizieren und Fehler von einem Wafer bis zu einem gesamten Produktionsablauf nachzuvollziehen. Das Werkzeug misst die Oberflächentopographie eines Wafers von 10nm bis 420nm mit dreidimensionalen Messungen. Das Asset kann eine breite Palette von Parametern wie Dicke, Flächenebene und KEs mit erhöhten und gestrichelten Flächen messen. Es bietet auch eine kritische Analyse von Profilgeometrie, Oberflächenrauhigkeit und Struktur-KEs wie Gruben, Höcker und Gräben. Um genaue Ergebnisse zu gewährleisten, bietet das Modell eine Vielzahl von Scantechniken, einschließlich SPM-Scannen auf verfügbaren Kamerasystemen, Oszillationsscannen, X-Y-Plotting und Restschädigungsprofil-Messungen. Darüber hinaus umfasst SLOAN DEKTAK 8 verschiedene Datenverarbeitungstechniken, die die mit dem Gerät gesammelten Daten analysieren, um die Genauigkeit des Systems weiter zu unterstützen und zu erhöhen. Das Gerät bietet eine Reihe fortschrittlicher Funktionalitäten, wie eine Hochleistungs-Bewegungsmaschine mit Low-Speed-Autofokus-Technologie und Vibrationsreduzierung. Darüber hinaus bietet es eine Vielzahl von Mikroskopkameras und optischen Systemen, einschließlich einer Variablen, die es dem Benutzer ermöglicht, zwischen Reflexion, Übertragung oder beidem für eine optimale Bildqualität zu wählen. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Geräteschnittstellensoftware den Anschluss an verschiedene externe Instrumente, darunter Datenanalysesoftware wie Partikelgrößenmesssoftware, CCD-Bildgebung, Laser-Mapping und Strahlprofilierungssoftware. DEKTAK 8 Wafer-Test- und Messtechnik-Tool bietet Anwendern eine leistungsfähige und effiziente Möglichkeit, die Waferqualität zu beurteilen und Fehler zu erkennen und zu analysieren. Dieses einzigartige Asset ermöglicht präzise und wiederholte Messungen mit ausgezeichneter Genauigkeit und enthält erweiterte Funktionen, die Workflow-Prozesse optimieren und verbessern. Dieses Modell ist perfekt für Anwendungen in der Halbleiterindustrie, und seine Genauigkeit und Zuverlässigkeit macht es zu einem Marktführer in der Industrie.