Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 8 #9312437 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
![VEECO / SLOAN DEKTAK 8 Foto Verwendet VEECO / SLOAN DEKTAK 8 Zum Verkauf](https://cdn.caeonline.com/images/veeco-sloan_dektak-8_1329013.jpg)
![Loading](/img/loader.gif)
Verkauft
VEECO/SLOAN DEKTAK 8 lieferte eine hochentwickelte Plattform für Wafertests und Messtechnik. Es zeigte eine umfassende integrierte Ausrüstung zum Testen von Wafern mit einer Vielzahl von Techniken, wie Laserreflektometrie und Atomkraftmikroskopie, sowie eine breite Palette von physikalischen Messungen einschließlich Oberflächentopographie, elektrische Charakterisierung und optische Filme. VEECO DEKTAK 8 integrierte eine breite Palette von Systemkomponenten und -technologien, um die erforderliche Prüfung und Messtechnik effizient durchzuführen. Zu den Merkmalen und der Hardware gehörten: ein XYZ-Stufensteuerungsmechanismus, der eine präzise Manipulation des Wafers ermöglicht; einen Hochleistungs-Konfokallaser zum Messen von Oberflächentopographie und Brechungsindex; eine Reihe von Beleuchtungsköpfen zum Abbilden von Bildern, Filmen und Profilen; ein Netz elektrischer Sonden zum Bewerten elektrischer Eigenschaften; und eine anspruchsvolle Bildverarbeitungseinheit mit 3D-Fähigkeit zur Durchführung einer hochgenauen Messtechnik. Auch die gesamte Maschine wurde automatisiert, um wiederholbare Testergebnisse und eine effektivere Datenerfassung zu gewährleisten. Darüber hinaus wurde SLOAN DEKTAK 8 unter Berücksichtigung der Bedienersicherheit konzipiert, und seine spezifischen Sicherheitsmaßnahmen umfassten eine helle Laserstrahlabdeckung und eine sichere Haube für den Laser und andere Hardware. Es wurde auch entworfen, um Effizienz in der Prüfung und Messtechnik zu gewährleisten, mit Funktionen wie Autozeroing, High-Speed-Sampling und optische Ausrichtung Fähigkeiten. Kurz gesagt, DEKTAK 8 stellte eine revolutionäre Plattform für Wafertests und Messtechnik dar. Die umfassende Integration von Komponentensystemen und -technologien führte zu schnelleren, genaueren Tests und Datenerfassung, während die Sicherheitsmaßnahmen den Anwendern Ruhe bot. Schließlich sorgten die Hochgeschwindigkeits-Sampling- und Autozeroing-Funktionen für Effizienz für alle Beteiligten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor