Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 8 #9379869 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 8 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit für Messungen auf der Waferoberfläche zu erreichen. VEECO DEKTAK 8 bietet präzise Wafer-Profilierung und Messung der Oberflächentopographie mit einer Auflösung von bis zu 0,2 nm Alpha-Step. Darüber hinaus bietet das System die Flexibilität, Konfigurationen für verschiedene Prozessanwendungen wie Bilderfassung und Autofokus-Funktionen anzupassen. SLOAN DEKTAK 8 Einheit verwendet eine Kombination aus optischer Interferometrie und mechanischem Stiftscannen, um Topographie auf einer Vielzahl von Probensubstraten mit bis zu 10nm vertikaler Auflösung zu messen. Die Maschine misst eine Vielzahl von Parametern, einschließlich Dicke, Oberflächenrauhigkeit und Oberflächenfehler. Es ist auch in der Lage, bis zu 10.000 Linien über die Probe zu erfassen. DEKTAK 8 nutzt auch eine Reihe fortschrittlicher Bildgebungstechnologien wie Infrarotreflexion und digitale Mikroskopie zur automatisierten Oberflächencharakterisierung. Für die Probenvorbereitung kann VEECO/SLOAN DEKTAK 8 Wafer bis 8 "Durchmesser aufnehmen. Der Wafer ist zur Probenausrichtung und Abtastung auf einer vakuumgespannten Drehstufe montiert. Das Werkzeug verwendet eine hochempfindliche Krafterfassungstechnik, um eine präzise Probenpositionierung vor der Messung zu gewährleisten. VEECO DEKTAK 8 Software bietet erweiterte Mess- und Analysefunktionen, einschließlich einer Reihe von statistischen Analysetools. Die Software ermöglicht es Benutzern auch, detaillierte Karten von Oberflächeneigenschaften zu erstellen, sowie Daten aus einem sicheren Speicher zu speichern und abzurufen. Insgesamt ist SLOAN DEKTAK 8 Asset eine ideale Wahl für Wafertests und messtechnische Anwendungen, die hochpräzise Messungen und konkurrenzlose Wiederholbarkeit erfordern. Mit seiner Kombination aus optischen Komponenten, fortschrittlicher Bildgebung und ausgefeilter Software bietet DEKTAK 8 eine umfassende Lösung für Forscher und Hersteller, die eine genaue Waferoberflächenanalyse suchen.