Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK I #78840 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK I ist eine fortschrittliche automatische Stylus-basierte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die präzise Kontaktmessungen für topographische (geometrische) Oberflächentests ermöglicht. Dieses System verfügt über weitreichende Fähigkeiten und bietet Substrate mit einem Durchmesser von 2,5 mm bis 200 mm. Das Gerät verfügt über einen langlebigen, elektrochemischen Stift, der für kritische Substrate optimiert ist und gleichzeitig die Flexibilität bietet, Messungen über einen weiten Bereich von Geschwindigkeiten durchzuführen, sodass Benutzer „kritische Geometrien“ lokalisieren können. VEECO DEKTAK I verfügt über einen Hochgeschwindigkeitszähler zum Messen und Aufzeichnen von Daten an 10.000 Punkten pro Sekunde, der eine schnelle und genaue Messung der Oberflächenmerkmale ermöglicht. Darüber hinaus verfügt die Maschine über ein hochauflösendes Datenerfassungselektronikwerkzeug für eine exakte Auflösung von bis zu 2000 Zeilen/mm. Das Asset ermöglicht die Analyse und Datenmanipulation in Echtzeit durch seine mitgelieferte PC/Linux-Software. Das Modell kann in einer Vielzahl von Lichtbedingungen betrieben werden, einschließlich helles Feld, dunkles Feld und polarisierte reflektierte Sichtverbesserungen. SLOAN DEKTAK I bietet zahlreiche Vorteile, darunter präzise und präzise Oberflächentests, Datenerfassung und Analysefunktionen. Das Gerät kann präzise Messungen von topographischen Oberflächenmerkmalen wie aktive Flächengrößen, V-Scores, Stufen, Schritthöhen und Rauheitseigenschaften liefern. Zusätzlich kann das System Ebenheit, Welligkeit und Verzug unter einer Vielzahl von Bedingungen messen. Die integrierte Elektronik verfügt über mehrere Funktionen, darunter eine TouchScan-Funktion, die eine präzise Kontrolle über den Scanbereich ermöglicht, und dedizierte Schlüssel für eine einfache Datenmanipulation und programmierbare Tasten für einen schnellen Zugriff auf häufig verwendete Funktionen. Darüber hinaus bietet die fortschrittliche Optikmaschine des Geräts eine erweiterte Tiefenschärfe, die bei der genauen Erfassung detaillierter Oberflächenmerkmale hilft. Abschließend ist DEKTAK I Wafer Testing and Metrology Tool ein fortschrittliches Auto-Stylus-basiertes Asset, das präzise Kontaktmessungen von topographischen (geometrischen) Oberflächentests ermöglicht. Das Modell bietet eine Vielzahl von Vorteilen, darunter Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung, einfache Datenmanipulation und erweiterte Optik. Darüber hinaus kann die Ausrüstung präzise Messungen einer Vielzahl von Oberflächenmerkmalen vornehmen, einschließlich Stufen, Schritthöhen und Rauheitseigenschaften. Mit seinen zahlreichen Vorteilen und Eigenschaften ist VEECO/SLOAN DEKTAK I ein leistungsfähiges und vielseitiges Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das ideal für jede Anwendung ist, die präzise und präzise Oberflächentests erfordert.