Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK I #9018952 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK I ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnikausrüstung, die für ultrapräzise Oberflächentopographie-Profilierung und -analyse entwickelt wurde. Das System ist in der Lage, eine breite Palette von geometrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben zu messen, einschließlich Durchmesser, Ebenheit/Ebenheit, Oberflächenrauhigkeit, sowie andere Messtechnik wie Höhe, Tiefe und kritische Abmessungen. VEECO DEKTAK I verwendet eine kapazitive Sonde, die exakt auf einen motorgesteuerten x-y-Tisch ausgerichtet ist, um die Sonde entlang der Probentopographie zu bewegen. Dadurch kann die Einheit die Waferoberfläche präzise messen und scannen. Die Maschine verfügt über eine grafische Benutzeroberfläche, mit der der Benutzer den Betrieb des Werkzeugs interaktiv überwachen und steuern kann. Es verfügt auch über einen optischen Encoder, der Rückkopplung bietet, um die Genauigkeit während des Scanvorgangs zu gewährleisten. Zusätzlich ermöglicht ein Adapter die Anbindung an eine Vielzahl von externen Instrumenten und Peripheriegeräten. Das Modell bietet auch verschiedene integrierte Korrekturen und automatisierte Positionierung sowie optimierte Scan-Pfade, um die maximale Auflösung von der Waferoberfläche zu erfassen. SLOAN DEKTAK I stellt dem Anwender auch erweiterte grafische Analysetools zur Verfügung, um eine weitere Analyse der aufgezeichneten Daten zu ermöglichen. Mit diesen Werkzeugen können detaillierte Oberflächentopographie-Karten, 3D-Oberflächenansichten und andere geometrische Profile der Waferfläche erzeugt werden. Insgesamt ist DEKTAK I eine fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die präzise Messungen und Analysen von Halbleiterscheiben ermöglicht. Das System ist in der Lage, eine Vielzahl von geometrischen Merkmalen der Probenoberfläche zu erfassen und zu analysieren, und verfügt über erweiterte grafische Analysewerkzeuge, mit denen der Benutzer die Daten gründlicher analysieren kann. Darüber hinaus ist das Gerät entworfen, um die Bedienung zu vereinfachen und eine genaue Sondierung und Abtastung der Waferoberfläche zu gewährleisten.