Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK II #150012 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK II ist ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messtechnik-Tool zur zerstörungsfreien Charakterisierung und Messung von Wafern. Dieses System ist hochgenau und bietet eine integrierte Lösung für Wafertests und Messtechnik von einer einzigen Plattform aus. VEECO DEKTAK II Einheit ist entworfen, um mehrere Arten von Messungen einschließlich Elektronenstrahl induzierten Strom (EBIC), Leitfähigkeit, Oberflächentopographie, Oberflächenprofil und Robustheit durchzuführen. Es bietet auch eine Vielzahl von Scan-Modi, einschließlich lateraler, vertikaler und zweidimensionaler Scans. Die Maschine ist in der Lage, Oberflächenmerkmale wie Dünnschichtmerkmale und Defekte im Wafermaterial zu überwachen und zu analysieren. SLOAN DEKTAK II Werkzeug ist mit einer hochauflösenden Stufe ausgestattet, die es dem Anwender ermöglicht, Nanometermerkmale zuverlässig und genau zu messen. Dieses Asset wird durch eine intuitive Benutzeroberfläche angetrieben, die eine verbesserte Sichtbarkeit der Beispieloberfläche ermöglicht. Die Benutzeroberfläche verfügt über einen Fokusverbesserungsmodus, automatische und manuelle Ausrichtwerkzeuge und ein automatisches Wafer-Erkennungsmodell. Außerdem können Benutzer die Probenoberfläche vergrößern und verkleinern, um eine detaillierte Analyse durchzuführen. DEKTAK II-Geräte basieren auf einer präzisen mehrachsigen motorisierten Stufe, die es dem Anwender ermöglicht, präzise Wafermessungen mit höchster Genauigkeit durchzuführen. Das System umfasst zuverlässige Tastsensoren und Sehsensoren, die zur Bestimmung von Oberflächentopographie und Submikron-Auflösungsmessungen eingesetzt werden. Darüber hinaus ermöglicht das Gerät dem Benutzer, erfasste Daten für die zukünftige Nutzung zu speichern und zur weiteren Analyse herunterzuladen. Insgesamt ist die Maschine VEECO/SLOAN DEKTAK II ein zuverlässiges und genaues Werkzeug für Wafertests und messtechnische Anwendungen. Seine einfache und intuitive Benutzeroberfläche, präzise Bühnen- und zuverlässige Sensoren ermöglichen es Anwendern, beispiellose Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei Wafermessungen und Analysen zu erreichen. Das VEECO DEKTAK II-Werkzeug ermöglicht es dem Anwender, Eigenschaften der Nanometerskala zu messen, Dünnschichtmerkmale zu analysieren und Oberflächenfehler im Wafermaterial genau zu erkennen.