Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK II #68582 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK II ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung kritischer Oberflächenmerkmale auf modernen Halbleiterbauelementen wie nanoskaligen FETs (Feldeffekttransistoren). Dieses System verwendet ein modernes Atomkraftmikroskop (AFM), um eine genaue und detaillierte dreidimensionale Karte eines Wafers mit nanoskaliger Auflösung zu erreichen. Dies hilft bei der Konstruktion und Prüfung von Halbleiterbauelementen in wenigen Schritten des Waferdurchmessers und liefert so hervorragende Ergebnisse der Oberflächenabbildung, die sehr genau, detailliert und wiederholbar sind. VEECO DEKTAK II Gerät ist auch gut geeignet für konventionelle Messtechniken wie Stift- und optische Profilometrie sowie erweiterte Optionen wie Oberflächenrauhigkeit, Suboberflächenzerstörung und mehr. Der fortschrittliche AFM der Maschine ermöglicht 3D-Bildgebung und -Forschung, die mit einer patentierten „Flex-Drive“ -Option gekoppelt ist, die das Werkzeug extrem anpassungsfähig macht. Das Asset kann einfach für eine Vielzahl von Topographie- und Oberflächenstrukturmessungen konfiguriert und optimiert werden, einschließlich derjenigen, für die begrenzte Datensätze oder neue Wafertypen verfügbar sind. Das Modell bietet auch eine der höchsten Ebenen der automatisierten Betrieb zur Verfügung, erheblich reduziert manuelle Entscheidungsfindung, indem Benutzer Daten sammeln Entscheidungen nur auf der Grundlage der Daten von der Ausrüstung gesammelt zu treffen. Dies minimiert menschliche Fehler, verkürzt Testzyklen und verringert die Zeit und das Geld, das während der Wafertests ausgegeben wird. Darüber hinaus ist das System leistungsstark genug, um mehrere Wafergrößen von 1 Zoll bis 8 Zoll Durchmesser zu handhaben, und umfasst eine Datenerfassungssuite, die Funktionen wie Multi-Image-Erfassung sowie statistische Messtechnik enthält. Insgesamt ist SLOAN DEKTAK II eine zuverlässige und zuverlässige Wafertest- und Messtechnik-Einheit, die alle Erwartungen an Genauigkeit, Auflösung und Geschwindigkeit erfüllt. Mit seinem breiten Spektrum an automatisierten Funktionen, der Kompatibilität mit verschiedenen Wafergrößen und der Flexibilität, die durch seine AFM und andere erweiterte Funktionen geboten wird, ist diese Maschine für viele verschiedene Testanwendungen geeignet. Dank seiner Kombination aus fortschrittlichen AFM und optischen Techniken ist DEKTAK II ein hochfunktionales und kostengünstiges Werkzeug, dem jeder Halbleiterhersteller vertrauen kann, um genaue und zuverlässige Ergebnisse zu erzielen.