Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #114323 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK IIA Wafer-Prüf- und Messtechnik ist ein fortschrittliches, vielseitiges Messwerkzeug, das dünne Filme und Schichten auf Wafern, die in einer Vielzahl von Industrie- und Forschungsanwendungen verwendet werden, genau messen kann. Dieses System vereint die aktuellsten Innovationen in der Präzisionstechnik, der optischen Ausrichtung und der Bewegungssteuerung. VEECO DEKTAK IIA ist einzigartig in der Lage, eine breite Palette von Foliendicken zu messen, von weniger als 1 Angström bis zu 2000 Angström, mit einer hohen Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Das Gerät ist mit einer sicheren ergonomisch gestalteten ergonomischen Workstation mit einem präzisen Joystick und einem großen, hochauflösenden Farbdisplay ausgestattet. Eine Überwachungsmaschine garantiert höchste Genauigkeit und Zuverlässigkeit, während ein Datenerfassungswerkzeug dafür sorgt, dass Messungen konsequent durchgeführt und dokumentiert werden. SLOAN DEKTAK IIA umfasst auch einen fortschrittlichen automatisierten Wafer Handling Asset und einen Multiplexer für die Integration mit anderen Instrumenten. DEKTAK IIA verwendet einen fortschrittlichen, dreiachsigen Nanometer-Positionierer, um Schichtdicken präzise und genau zu messen. Die optische Ausrichtung des Modells gewährleistet eine genaue Positionierung der Probe, während mehrere Scanmodi die Messung von dünnen Filmen und Schichten auch in hochresistenten oder komplexen Topologiebereichen ermöglichen. VEECO/SLOAN DEKTAK IIA verfügt auch über einen automatisierten Zeilenscan-Modus, der ein effizientes Einwegscannen ermöglicht. Dies ermöglicht hohe Zeilenabtastraten, wodurch Dünnfilmschichten schneller gemessen werden können als bei herkömmlichen Abtastungen. Darüber hinaus ist VEECO DEKTAK IIA mit einem automatischen Waferaustauschsystem für einen schnellen und zuverlässigen Probenaustausch zwischen der Bühne und mehreren Instrumentierungswerkzeugen ausgestattet. SLOAN DEKTAK IIA bietet detaillierte Datenanalysesoftware zur automatisierten Analyse und Änderung der Einstellungen für messtechnische Ergebnisse. Diese Software umfasst eine erweiterte grafische Benutzeroberfläche zur sofortigen Interpretation von Daten sowie umfassende grafische Berichte zur Präsentation und Weiterverarbeitung von Analyseergebnissen. Insgesamt ist die DEKTAK IIA Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit ein fortschrittliches und zuverlässiges Werkzeug, das sich für eine breite Palette von Industrie- und Forschungsanwendungen eignet. VEECO/SLOAN DEKTAK IIA ist dank seiner vielfältigen Scanmodi, seiner fortschrittlichen Präzision und Genauigkeit sowie seiner effizienten Datenanalysesoftware ein unverzichtbares Werkzeug für höchste Genauigkeit bei Dünnschichtmessungen und -analysen.