Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #293752410 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK IIA ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für Halbleitertestanwendungen entwickelt wurde. VEECO DEKTAK IIA verfügt über eine Reihe integrierter Funktionen, die es zu einem idealen System für Halbleitertests machen, wie automatische Messung statischer elektrischer Eigenschaften und Inline-Scanning. Darüber hinaus verfügt es über eine erweiterte Oberflächenkonturiereinheit, die es dem Bediener ermöglicht, die Waferoberfläche genau zu definieren, um die Waferform, die kritische Dimension und andere elektrische Eigenschaften zu überwachen. Das Gerät verfügt über eine 16 „x 8“ Waferstufe zur gleichzeitigen Messung von Wafern mit bis zu 8 Zoll Durchmesser. Die 6-Punkt-Prüfmaschine ISO-Standard ermöglicht eine flexible Ausrichtung der Sonden auf dem Wafer, um die Prüfqualität zu optimieren. Der integrierte Scanner ermöglicht die automatisierte Messung statischer elektrischer Eigenschaften und die Inline-Abtastung größerer Waferbereiche. Die Software unterstützt auch Datenanalyse, Offline-Betrieb und Datenspeicherung der Wafer-Messergebnisse. SLOAN DEKTAK IIA bietet fortschrittliche Instrumentengenauigkeit und Wiederholbarkeit für hochpräzise Messungen. Die Messgenauigkeit wird durch die Encoderskala für die seitliche und vertikale Probenpositionierung und den Präzisionsrahmen gewährleistet, der Steigungs- und Rollenfehler verhindert. Das Lasermesstechnikwerkzeug verfügt über ein hochgenaues und stabiles sechsachsiges Laserinterferometer zur Messung der Probenneigung sowie der Größe und Form der Strukturen. Schließlich verfügt das Asset über eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der der Bediener das Messprogramm schnell einrichten und ausführen kann. Die benutzerfreundliche grafische Umgebung vereinfacht die Parameterauswahl, um die Rüstzeit zu minimieren. Das Modell enthält auch eine Reihe von Prozesssteuerungen, um einen wiederholbaren und genauen Messvorgang zu gewährleisten. Abschließend ist die VEECCDEKTAK IIA eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Metrologie-Ausrüstung, die den Anforderungen der Halbleiterprüfung entspricht und hochpräzise Ergebnisse mit integrierten Funktionen bietet, die das System einfach zu bedienen machen. Die Abmessungen der Waferstufe sowie der Scanner und die integrierten messtechnischen Werkzeuge machen sie zu einer umfassenden und zuverlässigen Einheit für Wafertests und messtechnische Messungen.