Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK IID #9237470 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK IID ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die physikalischen Eigenschaften dünner Wafer schnell und genau zu messen. Das System verwendet die gleiche fortschrittliche Technologie, die in der VEECO-Linie von Wafer-Probern gefunden wird, fügt aber die Fähigkeit hinzu, Wafer-Oberflächenmerkmale wie Schritthöhen und Bildauflösung zu messen. Dies ermöglicht die Analyse der Halbleiterprozesssteuerung und Ausbeute Optimierung. Die Einheit besteht aus einer geschlossenen Prüfkammer und einem Mikroskop, einem Scanner, einer CCD-Kamera und einer Elektronik. Die geschlossene Prüfkammer ist mit der Mikroskopopoptik verbunden und enthält integrierte Standards zur genauen Kalibrierung und Positionierung. Der Scanner wird verwendet, um die Probe zu lokalisieren und die CCD-Kamera gewährleistet eine genaue Positionierung und Messung von Wafer, Merkmal und anderen Testparametern. Das Elektronikpaket umfasst eine Signalaufbereitungselektronik, ein Langzeitspeicherpaket und einen Computerprozessor. Im Betrieb ist VEECO DEKTAK IID in der Lage, Wafereigenschaften wie Ebenheit, Schritthöhen, Pseudosurfaces und hochauflösende Oberflächenbildgebung zu messen und zu überwachen. Die Maschine hat auch eine 2µm Auflösung über den gesamten Wafer. Um eine genaue Messung zu gewährleisten, ist das Werkzeug mit einem Vibrationsdämpfungsmechanismus ausgestattet, der die Wirkung von Störungen auf Wafer schnell reduziert. Der Messbereich des Vermögenswertes beträgt 0nm bis 6.0µm, und im Vergleich zu ähnlichen Systemen ist es in der Lage, Wafer mit mehr Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen. Darüber hinaus verfügt SLOAN DEKTAK IID über benutzerfreundliche Softwarepakete und Parametereinstellungen, die an Forschungs- und Produktionsanforderungen angepasst werden können. Diese Konfigurationen ermöglichen eine einfache Konfiguration und Bedienung des Modells für schnelle Tests und hohe Erträge. Insgesamt ist DEKTAK IID eine leistungsfähige und zuverlässige Wafer-Prüf- und Messtechnik. Seine genauen und wiederholbaren Messungen sind von unschätzbarem Wert für die Halbleiterprozesssteuerung und -optimierung. Die flexiblen Softwarepakete und das zuverlässige Design machen das System sehr benutzerfreundlich und sichern seinen anhaltenden Erfolg im industriellen Testmarkt.