Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si #293592033 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 Si ist eine hochentwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wurde entwickelt, um die genaue Größe, Form und andere Eigenschaften von Halbleiterscheiben und anderen Präzisionskomponenten zu messen. Das System ist äußerst präzise und effizient in seinen Messungen, so dass es ideal für jede Anwendung, die eine genaue Bewertung der Wafereigenschaften erfordert. VEECO V200-SI nutzt eine Vielzahl fortschrittlicher Technologien, um die Qualität der Wafer am effizientesten und genauesten zu bewerten. Das Gerät scannt mit einem präzisen Mikroskop die Waferoberfläche mit höchster Genauigkeit. Darüber hinaus helfen die Laser- und Interferometertechnologie bei der Messung von Merkmalen wie Linienbreiten und Profilabmessungen auf der Waferoberfläche. Neben den präzisen Messungen in der Maschine kann der DEKTAK auch schnell und präzise auf Defekte am Wafer scannen. Ein renommiertes, hochmodernes Punkt-zu-Punkt, Spaltlaser-Modul sorgt für eine extrem präzise Fehlererkennung, so dass selbst die kleinsten Defekte leicht erkannt werden können. Darüber hinaus können sowohl Dunkelfeld als auch Hellfeld-Bildgebung verwendet werden, um eine verbesserte Sicht auf die fertige Oberfläche zu erhalten. SLOAN DEKTAK V200 SI bietet zudem eine beeindruckende Auswahl an Schnittstellen, die eine Integration in bestehende Wafersysteme ermöglichen und sowohl lokale als auch entfernte Benutzer unterstützen. Auf diese Weise können die Daten online abgerufen und analysiert und Ergebnisse aus mehreren Systemen auf der ganzen Welt genau verglichen werden. Das Werkzeug ist vielseitig genug, um in einer Vielzahl von Wafer-Prüfanwendungen eingesetzt werden, einschließlich der laufenden Bewertung der Waferqualität in der Fertigung. Es ist sowohl mit ein- als auch doppelseitigen Wafern kompatibel und kann sowohl undurchsichtige als auch transparente Wafer messen. Insgesamt ist SLOAN DEKTAK V- 200 SI eine äußerst vielseitige, effiziente und präzise Wafer-Test- und Messtechnik, die qualitativ hochwertige Ergebnisse für jede Anwendung liefert, die eine genaue Bewertung der Wafereigenschaften erfordert. Es ist eine ideale Wahl für eine Organisation, die ein leistungsstarkes und zuverlässiges Metrologiemodell sucht.