Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si #293621537 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 Si ist eine automatisierte 2-dimensionale Topographie-Workstation. Es wird verwendet, um eine breite Palette von verschiedenen Eigenschaften auf Siliziumscheiben oder anderen empfindlichen Komponenten zu messen. Es bietet Messungen, die präzise, wiederholbar und zuverlässig sind. VEECO V200-SI basiert auf der bewährten DEKTAK-Plattform mit einer einteiligen Konstruktion, die maximale Steifigkeit und Genauigkeit gewährleistet. Die Workstation bietet einen Messbereich von 0-800 μ m in voller Breite mit einer vertikalen Empfindlichkeit von 0,3 nm und eignet sich somit ideal für Waferdicke, Oberflächenrauhigkeit und Bewegungsmessungen. Das Gerät ist mit einem erweiterten Optikpaket ausgestattet, das ein Sichtfeld von 12,5 µm mit einer maximalen Scangröße von 1,2 mm x 1,2 mm bietet. Es ist mit einer integrierten Biege- und Scannerbühne ausgestattet, die eine reibungslose Bewegung und lange Lebensdauer ermöglicht. SLOAN DEKTAK V200 SI wurde entwickelt, um überlegene Ergebnisse mit minimalem Aufwand zu liefern. Es verwendet intuitive, Windows-basierte Software, die eine einfache Bedienung und Datenverwaltung ermöglicht. Die Software ermöglicht es Benutzern, maßgeschneiderte Messtipps zu erstellen, sowie auf eingebaute Sonden und Tipps zuzugreifen. Es kommt auch mit einem umfassenden Navigationssystem, das Daten und Funktionen schnell lokalisiert. Das Gerät verfügt über eine integrierte XY-Bewegungsstufe, die es ermöglicht, sich in 8 Richtungen zu bewegen und Geschwindigkeiten bis zu 250 mm/s zu erreichen. Die Maschine ist mit einem integrierten Touch-Sensor ausgestattet, der genauere und präzisere Messungen ermöglicht. SLOAN DEKTAK V-200 Si ist mit Membranschaltern ausgelegt, wodurch es einfach zu bedienen ist. V200-SI ist ein leistungsstarkes, vielseitiges Wafer-Test- und Messtechnik-Tool. Es bietet viele verschiedene Funktionen und Funktionen, so dass es eine ausgezeichnete Wahl für eine breite Palette von Anwendungen. Die Anlage eignet sich ideal zur Messung von Waferoberflächen und -merkmalen sowie anderen empfindlichen Komponenten, die präzise, wiederholbare und zuverlässige Ergebnisse erfordern.