Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si #9412436 zu verkaufen

VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si
ID: 9412436
Profiler.
VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 Si ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für Materialien auf Siliziumbasis entwickelt wurde. Es bietet kontaktlose 3D-Oberflächenmessungen von Halbleiterbauelementen und Leiterplatten. Das System bietet hohe Genauigkeit, Auflösung und Wiederholbarkeit von Messungen sowie vollständige Automatisierung und Flexibilität bei der Datenerfassung, um die hohen Anforderungen der Halbleiterhersteller zu erfüllen. Das V-200 Si ist ein hochpräzises 3-Achsen-Mikroskop, das Wafer bis 200 mm Durchmesser messen kann. Es ist mit einer 50-200 Mikron hochgenauen vertikalen Messachse ausgestattet, die branchenführende Genauigkeit und Wiederholbarkeit von Messungen bietet. Die Einheit ist für die Messung flacher und gekrümmter Flächen ausgelegt. Es kann Topographie und Dicke sowie aktive Geräteeigenschaften wie Gräben, Kontaktvias und Gateoxide messen. Das V-200 Si wird durch eine Hochleistungs-, 5-Achsen-Bewegungskontrollmaschine mit einer Fähigkeit zu 0.2nm Entschlossenheit für die X, Y, und Z Äxte und 320 nm/s maximale Überquerungsgeschwindigkeit angetrieben. Das Werkzeug bietet außerdem Schräg-, Bogen- und Verdrehungskorrektur, um die Genauigkeit der Flächenmessungen zu verbessern. Eine Multiregion-Datenerfassung gewährleistet eine schnelle und genaue Datenerfassung. Darüber hinaus kann eine Bildrate von bis zu 9 fps für spezifische Messungen eingestellt werden, was schnellere Ergebnisse mit weniger Datenaufwand ermöglicht. Das Modell ist mit proprietärer Software und Hardware ausgestattet, die für die Leistung des Geräts von entscheidender Bedeutung sind. Die Software umfasst eine GUI und ein Datenanalyseprogramm, mit dem ein Benutzer die gesammelten Daten steuern und analysieren kann. Es kann auch in die vorhandenen Qualitäts- und Fertigungskontrollsysteme eines Anwenders integriert werden. Darüber hinaus ist die Ausrüstung mit speziellen Automatisierungs- und Sicherheitsfunktionen ausgelegt, die eine schnelle und effiziente Prüfung unter Beibehaltung der Sicherheit des Bedieners ermöglichen. VEECO V200-SI ist in der Lage, konsistente und genaue Ergebnisse zu liefern, so dass es ideal für die Messung von Halbleiter- und Leiterplattenwafern ist. Mit vollautomatisierten Funktionen, flexibler Datenerfassung, hoher Genauigkeit und integrierter Software ist das System ein unschätzbares Gut für die Halbleiterindustrie.
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