Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK V-300-Si #9089205 zu verkaufen

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ID: 9089205
Wafergröße: 12"
Surface profiler, 12" Software: Dektak Includes monitor Accurate measurements through calibration Currentlty warehoused.
VEECO/SLOAN DEKTAK V-300-Si ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die Messgenauigkeit des Nanometers in einer automatisierten Umgebung zu gewährleisten. Das System bietet eine Reihe von Möglichkeiten, um Forschern zu helfen, eine Vielzahl von Materialien wie Halbleiter, Metalle, Polymere und Verbundstoffe genau zu charakterisieren, so dass sie genaue Daten aus der Oberflächentopographie, Dimension und Materialeigenschaften des Materials erhalten. Das V-300-Si ist eine präzise Wafer-Testeinheit mit einer Kombination aus optischen Profil- und Atomic Force Microscopy (AFM) -Fähigkeiten, die eine leistungsfähige Lösung für die Prüfung und Messtechnik von Halbleiter- und anderen Materialien bildet. Der optische Profiler des V-300-Si verwendet ein Interferometer der Serie 500 auf Basis einer HeNe-Laserlichtquelle für präzise, wiederholbare Messung und Bildgebung bei Nanometerauflösung. Das Gerät bietet vier Analyse- und Feedback-Stufen mit automatischen Erkennungs-, Handhabungs- und Indexierungsfunktionen und einer Reihe von vertikalen Verschiebungen bis zu 200 Mikrometern, sodass Benutzer vertikale Schritthöhen und andere Funktionen leicht analysieren können. Auch der Atomic Force Microscopy (AFM) -Modus des V-300-Si liefert außergewöhnlich präzise Ergebnisse, so dass Anwender Oberflächen in bis zu 4 gleichzeitigen Kanälen mit einer vertikalen Auflösung von 0,1 Nanometer und einer lateralen Auflösung von bis zu 3,2 Nanometern messen und abbilden können. Es verfügt auch über einen integrierten Hochspannungsgenerator IC, der die Messung und Steuerung elektrostatischer Ladungen ermöglicht, die oft auf Substratoberflächen vorhanden sind. Neben seinen unglaublich präzisen Engineering-Fähigkeiten bietet das V-300-Si auch mehrere hochgradig nutzbare Funktionen für eine verbesserte Betriebseffizienz. Dazu gehören ein ergonomisches Design, eine einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche sowie mehrere Datenausgabeformate und statistische Analysefunktionen, die den Arbeitsprozess einfacher und effizienter machen. Insgesamt ist VEECO DEKTAK V-300-Si eine hervorragende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die eine hohe Präzision und mehrere Funktionen bietet, um Forschern zu helfen, eine Vielzahl von Materialien mit Geschwindigkeit und Genauigkeit genau zu charakterisieren. Es ist ein unglaublich zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug zur Messung von Oberflächeneigenschaften, vertikalen Schritten und Oberflächenmaterialeigenschaften.
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