Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK V-320 Si #9103879 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK V-320 Si ist eine vielseitige Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine zuverlässige und genaue Wafermessung für eine breite Palette von Wafergrößen und -dicken ermöglicht. Das System nutzt eine einzigartige vakuumunterstützte Stufe, die die effiziente Bewegung von Wafern ermöglicht und gleichzeitig eine zuverlässige Positionierung und automatische Ausrichtung ermöglicht. Das Gerät ist mit einem leistungsstarken Hochgeschwindigkeitsmotor ausgestattet, der eine schnelle und genaue Messung auch bei mehreren Wafern gewährleistet. Das V-320 Si verfügt über eine integrierte optische Messmaschine, die hochgenaue, wiederholbare Messungen auf der Nanometerauflösungsebene liefert. Das optische Werkzeug ist mit 5x, 10x, 20x und 50x Objektiven ausgestattet. Darüber hinaus kann die Anlage mit einer Vielzahl von Objektiven angepasst werden, um die ideale Leistung für verschiedene Wafergrößen und Eigenschaften zu bieten. Ausgestattet mit fortschrittlicher Software und einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI) ist das V-320 Si einfach zu erlernen und zu bedienen. Diese fortschrittliche Ausrüstung bietet Benutzern genaue Ergebnisse und die Interpretation von Messungen für alle Wafergrößen und -formen. Der V-320 Si ermöglicht eine berührungslose zerstörungsfreie Messtechnik und ist damit eines der zuverlässigsten und vielseitigsten Wafer-Prüf- und Messtechnik-Systeme. Durch das Aktivieren berührungsloser Tests beseitigt das V-320 Si mögliche Schäden, die durch kontaktbasierte Tests verursacht werden können. Das Modell ist auch in der Lage, mehrere Parameter auf verschiedenen Wafern in schneller Folge zu messen, seine Effizienz zu erhöhen und die Arbeitskosten zu senken. Darüber hinaus bietet der V-320 Si eine hervorragende Kombination aus hoher Auflösung, Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Geschwindigkeit, die zuverlässige und präzise Messungen gewährleistet. Das V-320 Si bietet Anwendern auch eine verbesserte Datenanalyse. Das Gerät ist mit einem leistungsstarken Data Analysis Module (DAM) ausgestattet, das eine Vielzahl von grafischen Darstellungen und statistischen Funktionen bietet, die zur Visualisierung und weiteren Analyse ohne externe Software verwendet werden können. Darüber hinaus bietet das System die Möglichkeit, Wafer zu kalibrieren und Parameter über lange Zeiträume zu überwachen. Abschließend ist die V-320 Si eine ausgezeichnete Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit, die eine zuverlässige, kostengünstige und genaue Möglichkeit bietet, eine Vielzahl von Wafergrößen und -dicken zu messen. Die Maschine ist mit leistungsfähiger und benutzerfreundlicher Software ausgestattet, die es einfach zu bedienen und zu lernen, sowie robuste Tools für Analyse und Datenvisualisierung und -interpretation. Dieses fortschrittliche Messtechnik-Tool ist die ideale Lösung für jeden Wafer-Testprozess.