Gebraucht VEECO / SLOAN V200-SL #9257117 zu verkaufen

VEECO/SLOAN V200-SL ist ein automatisiertes Wafer-Prüf- und Messsystem von VEECO Metrology. Es ist für erweiterte Wafer-Charakterisierung und Analyse für Materialien wie Galliumnitrid, Kohlenstoff-Nanoröhren, Halbleiter und andere optoelektronische Wafer konzipiert. VEECO V200-SL ist in der Lage, hochpräzise, berührungslose Bildgebung und Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien über mehrere Wellenlängen. Es enthält einen bildgebenden Scanner, der bis zu 13.3X Vergrößerung mit einer Auflösung von 1 bis 10 nm bietet. Das System enthält auch SLOAN hochauflösenden optischen Profiler für genaue Oberflächenprofilmessungen. SLOAN DEKTAK V-200 SL ermöglicht eine schnelle Analyse einer Vielzahl von Proben mit breiter Dynamikbereichscharakterisierung, hohem Durchsatz und vielseitigen Kartierungsmöglichkeiten. Darüber hinaus bieten seine anpassbaren Modi und Parameter maximale Flexibilität und ermöglichen es Benutzern, Tests schnell und einfach einzurichten. Die erweiterten Funktionen von SLOAN V200-SL für Wafertests und Messtechnik umfassen Bildkorrelationsanalyse, Materialkontrast und Photolumineszenzbildgebung, Oberflächenrauhigkeit und Fehlerinspektion sowie verschiedene andere Analyse- und Charakterisierungstechniken. Mit seiner umfassenden Software-Suite können Anwender Daten schnell analysieren und die Datenerfassung und -analyse automatisieren. V200-SL bietet auch eine Reihe von Optionen, um seine Fähigkeiten zu erweitern. Es unterstützt bis zu zwei Kammerschalter und ermöglicht einen schnellen Transfer von Proben zwischen verschiedenen Test- und Messmodulen. Es unterstützt auch mehrere Probenstufen und verschiedene austauschbare Objektive für Hochgeschwindigkeits-Scan und Bildgebung. Insgesamt ist VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 SL ein zuverlässiges, kostengünstiges Wafertest- und Messsystem, das eine umfassende und präzise Analyse für Materialien wie Galliumnitrid, Kohlenstoff-Nanoröhren, Halbleiter und optoelektronische Wafer bietet. Der hochauflösende Bildscanner, der optische Profiler, die Bildkorrelationsanalyse und die anpassbaren Modi und Parameter machen ihn zu einem leistungsstarken Werkzeug zur präzisen und präzisen Charakterisierung einer Reihe von Materialien.