Gebraucht VEECO / SLOAN V200-SL #9266835 zu verkaufen

VEECO / SLOAN V200-SL
ID: 9266835
Profilometer.
VEECO/SLOAN V200-SL Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, hergestellt von VEECO, ist ein anspruchsvolles, hochpräzises Instrument, das für höchste Genauigkeit bei der Prüfung und Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Dieses System basiert auf einem ergonomischen mechanischen Design und wird von präzisen, schnellen 30-kV-Elektronenoptiken für konsistente, zuverlässige Bildgebung und Messungen angetrieben. Mit seiner ausgeklügelten Pulskontrolle, die die Genauigkeit innerhalb eines Nanometers gewährleistet, ist es in der Lage, dynamische zeitliche Messung auch bei höchster Auflösung. Darüber hinaus verfügt es über eine dynamische, automatisierte Probenphase zur einfachen Verwaltung verschiedener Anwendungen und eine kundenspezifische Bedienoberfläche. Das Gerät bietet eine intuitive, parameterbasierte Software für eine einfache Bedienung und die Messung von Small-Spot-Scans. Es bietet auch umfassende in-situ elektrische Analyse, einschließlich Transkonduktanz-Spannung (G-V) Kurven, Gate-Leckstrom, Gerätetransmissivität, dynamische Dielektrizitätskonstante und I-V-Kurven. Für präzise, zuverlässige Tests und Messtechnik ist die Maschine mit einem fortschrittlichen Mikroskop mit 10µm Auflösung ausgestattet. Darüber hinaus verfügt es über eine Vielzahl von Funktionen zur Verbesserung der Genauigkeit und Analyse, einschließlich Strahlstromkompensation, automatisierte Fehleranalyse, automatisierte Schwelleneinstellung und eine programmierbare Waferstufe. Das Werkzeug ist in zwei getrennten Konfigurationen erhältlich, eine mit einer einzigen Kammer und eine mit zwei Kammern. Die Einzelkammervariante umfasst eine 76mm Waferstufe und die Zweikammervariante eine 150mm Waferstufe. Jede Kammer verfügt über eigene integrierte statische Messtechnik und dynamische elektrische Messsysteme. VEECO V200-SL Wafer Testing and Metrology Asset von SLOAN ist ein umfassendes Instrument, das für fortschrittliche Messgenauigkeit und Zuverlässigkeit entwickelt wurde. Die intuitive Bedienung und die umfassende elektrische Analyse in situ machen es zur perfekten Wahl für hochpräzise Halbleiterprüfungen und Messtechnik.
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