Gebraucht VEECO V200-Si #9234710 zu verkaufen

VEECO V200-Si ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die schnelle, wiederholbare Messungen auf kleinen oder großen Wafern ermöglicht. VEECO V 200SI System verfügt über eine integrierte Messtechnik-Plattform, die bewährte optische und elektrische Technologien zur Bearbeitung von Wafern mit mehreren 300mm und 200mm Konfigurationen kombiniert. Es bietet branchenführende Prozess- und Testfunktionen für Halbleiter, MEMS, LED und andere Dünnschichtanwendungen. V200 SI-Einheit verfügt über eine 2-Achsen-Waferstufe mit einem messtechnischen Bewegungsbereich von 6 mm in x-Richtung und 20 mm in y-Richtung, was eine optimale Positionierung der Wafer ermöglicht. Seine hochpräzise optische Ausrichtmaschine ist für schnelle und wiederholbare Wafer-Positionen und Messungen ausgelegt. VEECO V200 SI verfügt zudem über einen schnellen Laser-Autofokus-Mechanismus zur Gewährleistung einer konstanten Wafer-Druckleistung. V200-Si verfügt über eine Vielzahl von kombinierten Metrologie- und Testkombinationen mit Optionen zur eigenständigen Nutzung oder Integration von mehreren Stationen in Test-/Sondenplattformen. Es verfügt über Interferometer zur präzisen Messung vergrößerter Bilder für genaue Dicken- und Höhenmessungen von Dünnschichtschichten. Es bietet auch elektrische Prüffähigkeit mit einem 4-Punkt-Sonden-Werkzeug zur Messung elektrischer Eigenschaften von Dioden, Transistoren und anderen mikroelektronischen Strukturen. V- 200 SI Asset ist speziell für eine Vielzahl von Prozess-/Testbedingungen konzipiert. Seine optimale luftdichte Umgebung eliminiert äußere Verschmutzungen bei Prüf- und Messvorgängen. Es bietet auch geschlossene thermische Steuerungsfunktionen, mit kundenspezifischen Heiz-/Kühlraten für die Präzisionstemperaturregelung. DEKTAK V-200 SI bietet mit seiner intuitiven Benutzeroberfläche eine leistungsstarke Automatisierungsfunktion zur Einrichtung, Überwachung und Steuerung der Test-/Prüfprozesse. Es integriert sich auch nahtlos in VEECO-Prozesswerkzeuge wie Molecular Beam Epitaxy (MBE), Atomic Layer Deposition (ALD) und Chemical Mechanical Polishing (CMP). V 200SI Modell ist eine der fortschrittlichsten Test/Sonde-Plattformen auf dem Markt. Seine Kombination aus Metrologie und elektrischen Testfunktionen bietet die beste Leistung und Genauigkeit für eine breite Palette von Halbleiterprozess- und Testanwendungen. Es ist die ideale Plattform für Wafertests und messtechnische Anforderungen auf Produktionsebene.