Gebraucht VEECO V200-Si #9235749 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9235749
Surface profiler
N2 and CDA: Standard quick connects 7 mm tube
Exhaust: General exhaust, 125 mm
Communication:
Standard printer port
Standard monitor port
Operating system: Windows 98 Second edition
Processor: Pentium (r), 32.0 MB RAM
Vertical range: Up to 262 µm
Vertical resolution (At various ranges): 1Å/65K Å, 10 Å/655K Å, 40 Å/2620K Å
Scan length: 50 µm to 200 mm
Scan speed ranges: 3 to 218 Seconds
Stage leveling: Automatic & power leveling
Stylus: Diamond, 5 µm radius
Stylus tracking force: Programmable, <1-30 mg
Max sample thickness: 45 mm
Sample stage diameter, 8"
Sample stage translation:
X Axis: 200 mm
Y Axis: 200 mm
Sample stage rotation: Θ 360°
Magnification: 60x to 420x
Standard power: 240 V, 10 A.
VEECO V200-Si Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine kompakte, kostengünstige Lösung zur Messung der kritischen Leistungsparameter von Halbleiterscheiben während der Produktion. Es verwendet softwaregesteuerte Optik, um die Topographie, Dicke und Gleichmäßigkeit der Oberflächen des Wafers zu messen. Das System bietet auch eine Reihe von Analysefunktionen, um sicherzustellen, dass der Wafer die gewünschten Spezifikationen erfüllt. VEECO V 200SI verfügt über eine unglaublich genaue Scan- und Messeinheit, mit der Benutzer die Eigenschaften des Wafers schnell und einfach analysieren können. Die Maschine bietet eine Auflösung von 0,3 Mikron und einen Messbereich bis 26mm x 26mm. Das Mikroskop hat einen optischen Zoom von bis zu 1000 Mal und ein großes Sichtfeld, das ein größeres Sichtfeld ermöglicht und gleichzeitig die Details einzelner Geräteeigenschaften intakt hält. VEECO-Tool verwendet eine Vielzahl von softwaregesteuerten Messtechniken, einschließlich Kontaktscannen, berührungsloses Scannen und spektroskopische Methoden. Diese Techniken ermöglichen es dem Benutzer, die Höhe der KEs zu messen und Datenpunkte zur Überprüfung zu generieren. Die Software bietet auch eine Reihe von Datenanalyselösungen, von der automatischen Digitalisierung von Topographiedaten bis zur Oberflächenrauhigkeitsbewertung. V200 SI umfasst auch eine benutzerfreundliche, intuitive grafische Oberfläche und erweiterte Rechenressourcen, so dass Benutzer Daten schnell und einfach analysieren und umfassende Engineering-Berichte erstellen können. Darüber hinaus können Anwender die Waferleistung in Echtzeit überwachen, analysieren und optimieren und so die gleichbleibende Qualität während des gesamten Produktionsprozesses gewährleisten. Insgesamt bietet DEKTAK V-200 SI Wafer Testing and Metrology Asset eine hochentwickelte und komfortable Lösung für automatisierte Wafertests und Messtechnik. Seine genauen Mess- und Analysefunktionen, gepaart mit seiner intuitiven grafischen Benutzeroberfläche, machen es zu einer idealen Wahl für hochgenaue Wafer-Inspektionsoperationen. Darüber hinaus stellen technische Support- und Schulungsprogramme von VEECO nach dem Verkauf sicher, dass Benutzer das Beste aus ihrem Modell herausholen und die höchste Genauigkeit und den höchsten Durchsatz im Produktionsprozess erzielen können.
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