Gebraucht VEECO V200-Si #9235992 zu verkaufen

VEECO/DEKTAK V200-Si ist eine Präzisions-Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um Schichten von Halbleiterchips für Dicke, Ebenheit und andere mikrostrukturelle Merkmale zu messen. Das System nutzt fortschrittliche optische Sensortechnologie, um die Oberflächentopographie eines Wafers zu messen und zu analysieren, was es zu einem idealen Werkzeug für Forschung und Produktion in der Halbleiterindustrie macht. Die optische Sensortechnologie von VEECO V 200SI nutzt zwei Arten von Scannern: einen ultrakompakten Scanspiegel und einen Low-Profile-Scanspiegel. Die ultrakompakten Scanspiegel sind so konzipiert, dass sie die Topographie von Standorten mit hoher Rauhigkeit genau erfassen, während die Low-Profile-Scanspiegel höhere Präzisionsmessungen an Standorten mit geringer Rauhigkeit bieten. Die Daten aus den Scans werden verwendet, um eine 3D-topographische Karte der Waferoberfläche zu erstellen, mit der die Oberflächenmerkmale wie Korngröße, kristalline Struktur und andere Mikrostrukturdefekte analysiert werden können. DEKTAK V200 SI-Einheit umfasst auch Software zur automatisierten Datenverarbeitung und -analyse. Die Software ermöglicht es dem Anwender, maßgeschneiderte Messungen zur Messung spezifischer mikrostruktureller Merkmale innerhalb des Wafers zu erstellen. Zudem automatisiert die Software den gesamten Messtechnik-Prozess und macht ihn für den Anwender einfacher und effizienter. Darüber hinaus ist DEKTAK V- 200 SI mit einer universellen Sprachschnittstelle programmiert, um sicherzustellen, dass die Daten leicht verstanden und auf andere Systeme angewendet werden können. DEKTAK V200-Si verfügt auch über eine Vielzahl von Zubehör, die die Präzision der Messungen verbessern können. Dazu gehören ein Scanner variabler Größe, eine temperaturstabilisierte Stufe und ein Glasfaserkabel. Der Scanner variabler Größe kann angepasst werden, um Wafer unterschiedlicher Größe zu messen, während die temperaturstabilisierte Stufe für genaue Messungen in warmen und kalten Umgebungen sorgt. Das Glasfaserkabel ermöglicht die Übertragung von Daten mit hohen Geschwindigkeiten zwischen dem Wafer und dem Arbeitsplatz. DEKTAK V 200SI ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine zur präzisen Messung und Analyse von Halbleiterschichten. Die hochpräzise optische Abtasttechnologie und die automatisierte Datenverarbeitungs- und Analysesoftware machen es zu einem idealen Werkzeug für die Messung und Analyse mikrostruktureller Merkmale innerhalb des Wafers. Darüber hinaus macht sein Zubehör das Werkzeug in der Lage, eine breite Palette von Wafergrößen und Temperaturen zu handhaben. VEECO/DEKTAK V- 200 SI ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für Forschung und Produktion in der Halbleiterindustrie.