Gebraucht VEECO / WYCO NT3300 #293796959 zu verkaufen

VEECO/WYCO NT3300 Wafer Testing and Metrology System ist ein hochentwickeltes Prüf- und Messtechnikinstrument, das entwickelt wurde, um die Eigenschaften von Halbleiterscheiben zu messen. Es bietet eine Kombination aus hoher mechanischer Präzision, fortschrittlicher Bildgebung und leistungsstarker analytischer Suite für die anspruchsvollsten Anwendungen. Auf der Basis einer optischen Plattform mit nahezu atomarer Auflösung ermöglicht WYCO NT3300 die gezielte Analyse selbst kleinster Defektmerkmale. VEECO NT-3300 bietet auch eine breite Palette von fortschrittlichen messtechnischen Werkzeugen zur Bestimmung hochkomplexer physikalischer und elektrischer Parameter von Einzeltransistoren und Bauelementen sowie einer waferweiten Abbildung wichtiger elektrischer Eigenschaften. Ausgestattet mit einer proprietären analytischen Suite können NT3300 mehrere Parameter eines Wafers unabhängig messen und vergleichen, einschließlich Elektromobilität, Prozessoptimierungstechniken, Oberflächenrauhigkeit, Fehlerüberwachung und -charakterisierung, Systemleistungsoptimierung und Defekte innerhalb und angrenzender Werkzeuge. Das Tool bietet darüber hinaus eine unübertroffene Kombination von Funktionen, einschließlich einer in-situ aktiven Kammer für die Mehrschichtverarbeitung, Partikelerkennung und -analyse, hochauflösende 3D-Bildgebung und visuelle Inspektion. Darüber hinaus bietet WYCO NT-3300 eine umfangreiche Bibliothek mit fortschrittlichen Messtechnik-Tools, um präzise, zuverlässige und konsistente Ergebnisse unabhängig vom Testaufbau zu liefern. VEECO NT3300 arbeitet mit Peltier-gekühlter Weißlichtmikroskopie, die drei Kanäle der Fluoreszenzbeleuchtung, einen Hellfeldkanal und einen Dunkelfeldkanal verwendet. Seine integrierte Optik ermöglicht es dem Werkzeug, kleine Merkmale in Halbleiterscheiben mit großer Präzision zu messen. Schließlich ist NT-3300 mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, die die Ergebnisse jedes Tests in einem umfassenden Format anzeigt, das leicht zu interpretieren ist. Alle Ergebnisse werden automatisch überprüft und dokumentiert, um Rückverfolgbarkeit und Genauigkeit zu gewährleisten. Zusammenfassend bietet VEECO/WYCO NT-3300 Wafer Testing and Metrology System eine umfassende Palette fortschrittlicher Werkzeuge zum Messen und Testen von Halbleiterscheiben mit höchster Präzision. Die hochauflösende Bildgebung, die leistungsstarke analytische Suite und die intuitive Benutzeroberfläche sorgen für zuverlässige und genaue Ergebnisse auch für die anspruchsvollsten Anwendungen.