Gebraucht VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING 1220 #9182605 zu verkaufen

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING 1220 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die sowohl für technische als auch für Produktionsanwendungen entwickelt wurde. Dieses System liefert hochgenaue Ergebnisse und bietet Ingenieuren und Verfahrenstechnikern die Möglichkeit, die Produktqualität schnell zu beurteilen und Probleme bei der Waferbearbeitung zu beheben. VIEW ENGINEERING 1220 integriert proprietäre digitale Bildscanner und optische Hardware, um Waferleistungsfunktionen automatisch zu identifizieren und zu messen. Ein automatisiertes Bildanalyseprogramm wird verwendet, um Fehler in der Waferstruktur zu lokalisieren und hochgenaue Ergebnisse zu liefern. GENERAL SCANNING 1220 bietet auch die Dateneingabe von Prozessparametern, die zur Erkennung der Korrelation zwischen Prozessparametern und Wafermessungen verwendet werden können. 1220 ist entworfen, um hohe Durchsatz, hohe Präzision Messtechnik auf verschiedenen Wafer Chemien und Größen zu liefern. Das Gerät ist in der Lage, Wafer-Chips mit einer hohen Abtastgeschwindigkeit zu erfassen und zu messen, um ganze Waferdicken bis zu 6,00 mm auszuwerten. Es kann auch eine umfassende Messtechnik von einkristallinen Silizium-Wafer-Proben bereitstellen, mit optischer Mikroskopie, um Proben mehrmals über Flächenbereiche bis zu 20 mm zu messen. Die vielseitigen Messfähigkeiten der Maschine umfassen auch automatisierte Neigungsmessungen, integrierte Fokussierung und schnelle Bildgebung. Darüber hinaus enthält VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING 1220 mehrere Funktionen, um die Verwendung zu vereinfachen und eine höhere Genauigkeit zu erzielen. Die Benutzeroberfläche des Tools ist in verschiedene Module unterteilt, die jeweils einer bestimmten Aufgabe gewidmet sind. Dadurch wird der Workflow optimiert, indem den Benutzern Integrations- und Analyseoptionen in einem übersichtlichen und intuitiven Format präsentiert werden. Darüber hinaus verbessert die hochempfindliche optische Komponente die Messgenauigkeit, während das automatisierte XY-Scannen zuverlässige Ergebnisse für jede Probe gewährleistet. VIEW ENGINEERING 1220 ist ein leistungsstarkes Wafer-Test- und Metrologiemodell, das es Anwendern ermöglicht, die Qualität ihrer Wafer schnell und genau zu beurteilen. Mit seinen fortschrittlichen optischen Scan- und Analysefunktionen ist die Ausrüstung in der Lage, viele verschiedene Arten von Wafern genau zu bewerten und die Waferproduktion und Produktqualität sicherzustellen.