Gebraucht VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING View Bazic 8 #9105953 zu verkaufen

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING View Bazic 8 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für den industriellen Einsatz in der Halbleiterherstellung. Es ist ideal für Präzisionsmessungen von Waferparametern und bietet eine umfassende Analyse einer Vielzahl von Prüflingen. Das System ist mit einem optischen Bildanalysator mit hoher Vergrößerung (OIA) ausgestattet. Dies ermöglicht eine kontrastreiche Abbildung von Testscheiben und genaue Messungen ihrer komplizierten physikalischen Strukturen und Eigenschaften. VIEW ENGINEERING View Bazic 8 besteht aus drei Hauptkomponenten: der Operator Console, der Main Mainframe Unit und der OIA. Die Operator Console ermöglicht die Eingabe verschiedener Messparameter und Einstellungen sowie die Steuerung der gesamten Einheit. Es bietet auch eine umfassende grafische Benutzeroberfläche (GUI) für schnelle und einfache Dateninterpretation. Die Main Mainframe Unit bietet Rechenleistung für die Maschine, indem Kamerasensoren, Prozessor und Speicher integriert werden. Diese Einheit ist in der Lage, eine Vielzahl von Datenformaten zu speichern und zu verarbeiten und ermöglicht die Kalibrierung von Bildern für präzise Messungen. Die OIA verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, um genaue Messungen zu gewährleisten. Es enthält Objektive mit 4x, 10x und 20x Vergrößerungen, eine vertikale CCD-Kamera, eine High-End-Bildverarbeitungsplatine und ein proprietäres Lichtquellen-Tool. Die Linsen bieten eine klare Sicht auf Testwafer und garantieren eine hervorragende Bildauflösung bis in den Nanometermaßstab. Darüber hinaus ermöglichen die CCD-Kamera und die Bildverarbeitungsplatine der OIA, präzise Bilder von Testwafern zu erfassen und ihre Parameter mit hoher Genauigkeit zu messen. Die proprietäre Lichtquelle misst die Intensität und Richtung des einfallenden Lichts, um die optischen Eigenschaften von Testproben zu untersuchen. GENERAL SCANNING View Bazic 8 ist eine leistungsstarke und hochgenaue Wafer-Test- und Messtechnik-Komponente für den Einsatz in der Halbleiterherstellung. Es ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Wafern zu erfassen und ihre Parameter genau zu messen. Der OIA sorgt dank seiner hervorragenden Bildauflösung und der präzisen Erfassung von einfallendem Licht für eine genaue Analyse und Dateninterpretation. Die Operator Console bietet eine umfassende Benutzeroberfläche für alle Funktionen des Modells und garantiert eine einfache Datenüberwachung. View Bazic 8 ist daher die ideale Lösung für die industrielle Halbleiterherstellung.