Gebraucht VISION PSYTEC VMX-3100F #9394601 zu verkaufen

VISION PSYTEC VMX-3100F ist eine voll ausgestattete Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die einen hohen Durchsatz und eine hohe Genauigkeit für komplexe Waferanalyse und -charakterisierung liefert. VMX-3100F bietet einen umfassenden Satz von messtechnischen Werkzeugen und Prozessen zur Messung und Analyse der Waferleistung. Es verfügt über ein einzigartiges, integriertes Design mit hochpräzisen Bewegungsfunktionen, mehreren optischen Bildgebungssystemen und fortschrittlichen Software-Algorithmen, um genaue messtechnische Messungen sicherzustellen. VISION PSYTEC VMX-3100F verfügt über ein modernes optisches Bildgebungssystem, das das feine Submikron-Detail von Waferformen und -mustern messen kann. Die bildgebende Einheit verwendet einen 45 ° Neigungs- und Drehkopf, der eine verbesserte Bildgebung und verbesserte Messgenauigkeit ermöglicht. Die Maschine kann auch eine breite Palette von Wafern aufnehmen, von 25mm bis 300mm im Durchmesser. VMX-3100F verfügt auch über ein fortschrittliches optisches Waferausrichtungstool, um eine präzise Waferausrichtung vor dem Test sicherzustellen. Das Asset verfügt über einen leistungsstarken High-Speed-Messtechnik-Motor mit integrierten Werkzeugen zur Analyse verschiedener Waferparameter. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Waferparametern zu messen, von der Grundherstellung von Halbleiterchips bis hin zu komplexen Bauelementausbeuten. Es umfasst Funktionen wie nichtlineare Messtechnik, parametrische Analyse, Ertragsbewertung, unvoreingenommene Messung, Mehrschichtanalyse, Vision Loopback und Multi-View-Messtechnik. VISION PSYTEC VMX-3100F enthält auch fortschrittliche Software-Algorithmen, um hochgenaue und zuverlässige messtechnische Ergebnisse zu gewährleisten. Es umfasst eine Datenanalyse und Reporting-Fähigkeit, um Daten schnell analysieren und Ergebnisse berichten zu können. Schließlich umfasst das Modell auch einen gesicherten Datenzugriff, der sicherstellt, dass vertrauliche Daten sicher aufbewahrt werden. VMX-3100F wurde entwickelt, um die Anforderungen der Waferanalyse und -charakterisierung zu erfüllen und bietet eine genaue, schnelle und sichere Ausrüstung für eine Vielzahl von Anwendungen. Dieses System ist ideal für Anwendungen wie IC-Entwicklung, Gerätesicherheitstests, Halbleiterchip-Studien und Prozessentwicklung.