Gebraucht WENTWORTH 0-021-0200 #293634266 zu verkaufen

WENTWORTH 0-021-0200 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für Halbleiterbauelemente und Wafer-Level-Charakterisierung von Silizium- und Verbundhalbleiterbauelementen und MEMS. Dieses fortschrittliche Messsystem ist in der Lage, verschiedene Arten von Tests und Messungen mit Präzision und Genauigkeit durchzuführen. 0-021-0200 besteht aus einer mehrstufigen, mehrachsigen Probenstufe und einer hochauflösenden Overlay-Messeinheit, die eine Reihe von Geräteparametern wie Dielektrizitätskonstanten, Gate-Kapazität, Gate-to-Drain-Kapazität und andere parametrische Leistung genau misst. Die Maschine umfasst eine umfassende Palette von Messwerkzeugen, darunter ein CCD-Mikroskop, eine digitale Bildgebungssoftware, eine thermisch gesteuerte Umgebungskammer und eine präzise Probenverfolgungs- und Analysesoftware. WENTWORTH 0-021-0200 bietet eine genaue und präzise Prüfung einer breiten Palette fortschrittlicher Halbleiterbauelemente, einschließlich finFET, FD-MOSFET, III-V und Micro Electro Mechanical Systems (MEMS) Architekturen. Das Werkzeug ist mit bis zu 32 Ausrichtstufen, 9-Achsen-Bewegungssteuerung, hochpräzisen Stufen und Wägezellen mit hoher Kraftauflösung, schnellen Probenmontageoptionen und einem breiten Spektrum an optischem Messtechnik-Zubehör für eine Vielzahl von Testaufgaben ausgestattet. 0-021-0200 verwendet hohe Genauigkeit, Hochleistungsabtastung interferometric mit der optischen Bildverarbeitung verbundene Technologie, sub-nm Beschlussmaße berücksichtigend. Das Asset bietet wiederholbare Messungen und einen Dynamikbereich im Bereich von 0,3 bis 50,2 Mikrometer, wodurch Wafer-Level-Geräte-Designs und -Konstruktionen überprüft werden. WENTWORTH 0-021-0200 ist für schnelle und genaue Tests in Umgebungen von Forschung und Technik bis zur Fertigungsmesstechnik konzipiert. Das Modell bietet eine breite Palette an erweiterter Fehlererkennung, einschließlich integrierter Datenerfassungs- und Analysesoftware, mit automatisierter Testplanung und Berichtsgenerierung. 0-021-0200 bietet eine komplette Reihe von Testfunktionen, die es Ingenieuren, Forschern und Produktionspersonal ermöglichen, die strukturelle Integrität und das thermische Verhalten von Halbleiter- und MEMS-basierten Bauelementen schnell zu überprüfen. Diese fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik ist in der Lage, die Genauigkeits- und Präzisionsanforderungen der neuen und aufkommenden Wafer-Level-Strukturen von heute zu übertreffen und bietet eine zuverlässige und wiederholbare Charakterisierung über eine breite Palette von IC-Materialien und -Geräten.