Gebraucht WIS INC PDS 1020-G2 #9258990 zu verkaufen

WIS INC PDS 1020-G2 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung ist ein Präzisionsanalysewerkzeug, das für die halbautomatisierte Inspektion und Kategorisierung von integrierten Schaltkreisen (IC) und Verbundhalbleiterscheiben entwickelt wurde. Dieses System ist in der Lage, sowohl den Kontaktwiderstand als auch die optische Mikroskopie (OM) zu testen, was es zu einer idealen Lösung für die Geräte- und Leistungsanalyse macht. PDS 1020-G2 umfasst ein optisches Glasröhrenmikroskop mit einer automatisierten Lichtquelle, einer motorisierten Bühne, einer hochauflösenden digitalen Bildverarbeitungseinheit und einer hardwarewählbaren integrierten Bildverarbeitungsmaschine. Das digitale Bildgebungstool verwendet einen 10-Megapixel-CCD-Bildsensor, um digitale Bilder von Waferoberflächen bei Vergrößerungen bis zu 500x zu erfassen. Das integrierte Vision-Asset umfasst erweiterte Bildverarbeitungsalgorithmen, um Fehler genau zu erkennen und Messungen an aufgenommenen Bildern durchzuführen. Das Modell verfügt auch über eine Präzisions-Ultraschallsondenstation und eine hochgenaue Bewegungssteuerung, die integrierte Widerstandsmessungen von Probenpunkten ermöglicht. Die Ultraschallsondenstation ist in der Lage, Widerstände bis zu 10GHz zu erfassen, während die Bewegungssteuerung die Sonde schnell zwischen Messpunkten zur genauen Widerstandsabbildung bewegt. Eine Probenhalterplattform ist auch enthalten, um die Wafer während der Prüfung sicher zu halten. Neben physikalischen Tests umfasst WIS INC PDS 1020-G2 Bordsoftware zur Datenverwaltung und Datenpräsentation. Dieses Gerät unterstützt sowohl 2D- als auch 3D-Plots, um einen umfassenden Überblick über die Leistung des Wafers zu geben, sowie eine Funktion, die es dem Benutzer ermöglicht, mehrere Setups zu vergleichen und Entscheidungen über optimale Testkonfigurationen zu treffen. Darüber hinaus werden anspruchsvolle Nachanalyse-Dienstprogramme einbezogen, um die Testergebnisse genauer zu entziffern. PDS 1020-G2 ist eine kompakte, einfach zu bedienende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die für eine Vielzahl von Halbleiteranwendungen geeignet ist, von der IC-Entwicklung bis zur Prozessqualitätsoptimierung. Seine einfache Bedienung, hohe Genauigkeit und umfassende Softwarefunktionen machen es zu einer idealen Lösung für die Geräte- und Leistungsanalyse.