Gebraucht WYKO NT 8000 #9302479 zu verkaufen

ID: 9302479
Weinlese: 2005
Optical profiler With BASLER A311f camera Objectives: 5x and 50x Galil controller With DELL G7 computer Operating system: Windows XP 2005 vintage.
WYKO NT 8000 ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die hohe Genauigkeit und Geschwindigkeit bietet. Es ist ein bewährtes berührungsloses optisches System, das „Dunkelfeld“ -Bildgebungstechnologie verwendet, um schnell eine Vielzahl von Merkmalen auf dem Wafer zu messen, einschließlich Oberflächentopographie, Schritthöhen, Partikelgröße und Fehlergröße. Das einzigartige Design des Geräts umfasst eine fortschrittliche CCD-Kamera auf einer Präzisionspositionierungsstufe sowie einen digitalen Hochleistungs-Signalprozessor (DSP) zur Steuerung von Bildgebung und Bewegung. Der DSP passt die Verstärkungs- und Belichtungseinstellungen der Kamera während der Bildgebung automatisch an und sorgt für genaue Messungen der Wafer-Funktionen. NT 8000 verfügt zudem über eine einzigartige Autofokus-Funktion, die Fokusfehler minimiert und die Scangeschwindigkeit und -genauigkeit optimiert. WYKO NT 8000 ist in der Lage, eine Vielzahl von Wafergeometrien zu messen, einschließlich Pad-Topographie, Gate-Seitenwandwinkel, Vertiefungen und Schlitztiefen. Es ist auch in der Lage, mehrere Merkmalstypen gleichzeitig in einem einzigen Scan zu messen. Dies ermöglicht einen schnellen, effizienten Prozess, der hochgenaue Ergebnisse liefert. Diese Maschine hat eine ausgezeichnete Wiederholbarkeit und wurde entwickelt, um maximalen Durchsatz und Genauigkeit zu bieten. Es unterstützt eine Vielzahl von Messbedingungen wie unterschiedliche Zoom- und Bildauflösung für erhöhte Genauigkeit. Es ist auch mit einer breiten Palette von spezialisierten Optik, Zubehör und Optionen ausgestattet, die es ermöglichen, eine Reihe von Merkmalen und Geometrien auf dem Wafer zu messen. Neben der Wafermesstechnik kann das Werkzeug auch die Erzeugung von Mikromusterfunktionen automatisieren. Es ist auch eine großartige Lösung für die Inspektion von nicht-flachen Substraten wie Linsen, Glas und AlN-Wafern. Insgesamt ist NT 8000 Wafer Testing and Metrology Asset ein fortschrittliches optoelektronisches Modell, das schnelle, hochgenaue Messungen von Wafer-Funktionen bietet. Sein vielseitiges Design ermöglicht die gleichzeitige Messung mehrerer Merkmalstypen sowie die automatisierte Mikromustererzeugung. Mit seiner branchenerprobten Leistung und benutzerfreundlichen Oberfläche ist WYKO NT 8000 eine ideale Lösung für verschiedene Inspektions- und Messtechnik-Anwendungen.
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