Gebraucht WYKO / VEECO HD 3300 #293658703 zu verkaufen

WYKO/VEECO HD 3300 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein High-End-Wafer-Testwerkzeug, das entwickelt wurde, um die physikalischen Eigenschaften und Eigenschaften von Halbleiter- und optoelektronischen Chips zu messen. Es bietet eine breite Palette von integrierten messtechnischen Funktionen und ist in der Lage, die Qualitätskontrolle der Eigenschaften von Wafern. Das System verwendet eine Kombination aus optischen, mechanischen und elektronischen Geräten, um die Inspektion und Messung von Wafern durchzuführen, wodurch eine gründliche Untersuchung des Materials einschließlich seines Oberflächenprofils, der Tiefe von Strukturen, dielektrischen und Metallschichten, Verbundhalbleiterschichten usw. ermöglicht wird. WYKO HD 3300 ist in der Lage, der rauen Umgebung des Reinraums zu widerstehen, ohne auf Genauigkeit zu verzichten. Es wurde entwickelt, um die Eigenschaften von Wafern bis zu einer Größe von 450mm zu messen und ist in der Lage, eine Vielzahl von physikalischen Eigenschaften zu erfassen, von der Topographie der Oberfläche bis zur chemischen Zusammensetzung der Schicht. Die Maschine umfasst eine erweiterte Optik zur Erfassung von Bildern des Wafers und ist in der Lage, Inspektionen und Messungen durchzuführen, darunter beispielsweise Topographie, Fehlererkennung, Kantenschritthöhen, Filmdicke, Waferbogen, 3D-Topographie sowie Partikelgröße und -form. Es ist auch in der Lage, elektrische Eigenschaften wie Widerstand, Kapazität, Induktivität und dielektrische Eigenschaften zu messen. Das Tool ermöglicht eine schnelle Datenanalyse; Es kann erweiterte Berechnungen durchführen, z. B. Daten aus den Bildern extrahieren, 3D-Bilder erstellen und Fehler identifizieren und kategorisieren. Darüber hinaus können Daten in verschiedenen Formaten exportiert werden, die weiter analysiert werden sollen. Schließlich ist es mit einer automatischen Partikel- und Fehlermessfunktion integriert, die zuverlässige Analyseergebnisse liefert. VEECO HD 3300 Wafer Testing and Metrology Asset ist ein vielseitiges Instrument zur Prüfung und Messung der Eigenschaften von Halbleiter- und optoelektronischen Wafern. Es bietet einen effizienten und leistungsstarken Weg, um sicherzustellen, dass Wafer die geforderten Standards erfüllen und gleichzeitig Genauigkeit und Zuverlässigkeit gewährleisten.