Gebraucht WYKO / VEECO LDM300 #293652834 zu verkaufen

ID: 293652834
Optical profiler.
WYKO/VEECO LDM300 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um erweiterte Testfunktionen bereitzustellen, die bis in die hochauflösende Submikronebene reichen. Dieses System unterstützt eine Reihe von Anwendungen, vor allem elektrische Prüfung und Wafer Charakterisierung. WYKO LDM300 ist mit einem optimierten 3D-Laser-Profiler mit seiner proprietären 3D-SEM-Technologie ausgestattet, um eine genaue Charakterisierung der Topographie der Waferoberflächen zu ermöglichen. Diese Technologie ermöglicht auch die automatisierte Messung von Leitfähigkeit, Widerstand und anderen relevanten Parametern. Das Gerät ist mit einer hochpräzisen Messplattform und integrierter dynamischer Bildgebungstechnologie ausgestattet, um eine qualitativ hochwertige Probenverarbeitung zu ermöglichen. Diese automatisierte Bildgebungstechnologie bietet verschiedene Funktionen wie Top-Down-Probenbildgebung, sekundäre Elektronenbildgebung (SEI), optische Messung mit bis zu 7 Mikron Auflösung und Mustererkennung zur kritischen Fehlererkennung und -analyse. Zusätzlich kann die Maschine Probenoberfläche, Ebenheit und berührungslose Wafereigenschaften wie Oberflächenform und Dicke messen. VEECO LDM300 wurde entwickelt, um höchste Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Zuverlässigkeit der Ergebnisse bei Wafertests zu gewährleisten. Die geräuscharme Elektronik und das patentierte Design ermöglichen fortschrittliche Oberflächentests. Mit der integrierten optischen Systemsteuerung unterstützt das Tool auch die weitere Signalverarbeitung, Feature-Extraktion, Mustererkennung und erweiterte Analytik. Darüber hinaus umfassen die Funktionen des Asset 3D-Druck und erweiterte Musterung für benutzerdefinierte MEMS-Komponenten. LDM300 ist ein vielseitiges, leistungsstarkes und genaues Modell, das eine zuverlässige und genaue Messung ermöglicht. Es eignet sich gut für erweiterte Messtechnik und Wafertests und liefert zuverlässige und genaue Ergebnisse mit hohen Durchsatzleistungen. Das Gerät ist eine kostengünstige Lösung, um die Analyse und Qualitätskontrolle von Wafern in hochentwickelten Forschungslabors und Halbleiterfertigungsanlagen zu ermöglichen.
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