Gebraucht WYKO / VEECO NT 1000 #293595607 zu verkaufen

WYKO/VEECO NT 1000 Wafer-Prüf- und Messtechnik-System ist ein vielseitiges modernes Werkzeug zur Messung der elektrischen, optischen und mechanischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien. WYKO NT 1000 misst die elektrischen Eigenschaften von Wafern, wie Widerstand und Leckstrom, und kann auch Materialzusammensetzung und Filmdicke analysieren. Darüber hinaus können Oberflächentopographie, Schaltkontur und Partikelmessungen durchgeführt werden. VEECO NT 1000 verfügt über eine fortschrittliche Stufenstufe mit einem X, Y-Verfahrbereich, der von 50mm bis 150mm variiert, sowie eine Probengrößenunterstützung von 200mm bis 300mm. Das System verfügt auch über eine hochauflösende, große Sichtfeld CCD-Kamera und leistungsfähige Bildgebungssoftware, die eine detaillierte Analyse der Oberflächentopographie und der Profile ermöglicht. Darüber hinaus verfügt NT 1000 über drei Wertschöpfungssondenoptionen: Kapazitätsmessungen, Dämpfungsfaktor und Dehnungsabbildung. In Bezug auf Software bietet WYKO/VEECO NT 1000 eine leistungsstarke, aber intuitive grafische Benutzeroberfläche. Dies macht das Ausführen von Tests und das Sammeln von Daten einfach und effizient. Mit der intuitiven Software können Anwender auch einfach komplexe Mapping-Programme erstellen, um Wafer-Eigenschaften zu analysieren. Darüber hinaus umfasst die Software eine breite Palette von Tools und Optionen zur Analyse statistischer Daten sowie ein robustes System zur Betrachtung von Seitenfenstern und zur Datenarchivierung. WYKO NT 1000 ist ein leistungsfähiges und produktives Werkzeug, das wegen seiner Fähigkeit, eine Vielzahl von Wafereigenschaften schnell, genau und kostengünstig zu messen, immer beliebter wird. Es ist ideal für Halbleiterhersteller und Forschungslabore sowie akademische Einrichtungen und liefert Anwendern die Daten, die zur genauen Überwachung der Produktqualität und -leistung benötigt werden. Die vielseitigen Funktionen von VEECO NT 1000 für Wafertests und Messtechnik machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug zur Messung und Analyse von Halbleitermaterialien.