Gebraucht WYKO / VEECO NT 2000 #153871 zu verkaufen

WYKO/VEECO NT 2000 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur Messung von Strukturen im Nanometermaßstab in Halbleiterscheiben. Es nutzt Atomkraftmikroskopie (AFM) und andere fortgeschrittene optische und elektrische Sonden, um Topographien und elektrische Eigenschaften der Strukturen zu messen. Das System ist in der Lage, Strukturen so klein wie ein Bruchteil eines Nanometers zu testen und zu erfassen und hat eine Auflösung von weniger als 10 Picometern. Es verfügt außerdem über eine hochauflösende optische Einheit und einen leistungsstarken Laser zur Messung der Topographie und anderer Merkmale der Strukturen. WYKO NT 2000 bietet eine breite Palette von Messfähigkeiten einschließlich der Messung der elektrischen Eigenschaften der Strukturen, des Sondenstroms sowie der Form und Größe der Strukturen. Die Maschine ist mit einem fortschrittlichen Sicht- und Navigationswerkzeug ausgestattet, mit dem Wissenschaftler Nanostrukturen genau messen und für bestimmte Anwendungen optimieren können. Es ist mit einer innovativen Benutzeroberfläche ausgestattet, die es einfach macht, Daten zu bedienen, zu konfigurieren und zu analysieren. Es bietet auch eine fortschrittliche Temperaturkontrolle, die auf sehr enge Bereiche einstellbar ist und die verwendet werden kann, um die Auswirkungen der Temperatur auf Nanostrukturen zu untersuchen. VEECO NT 2000 ermöglicht auch die Integration mehrerer AFM-Techniken und Techniken wie elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM). So können Wissenschaftler gleichzeitig unterschiedliche physikalische Parameter wie Oberflächenpotential, Dielektrizitätskonstante und Oberflächenrauhigkeit messen. Das Modell bietet auch erweiterte Datenverwaltungsfunktionen, mit denen Daten gespeichert und für eine schnelle Analyse sortiert werden können. Daten können in verschiedenen Formaten exportiert und zur weiteren Analyse in andere Systeme exportiert werden. Abschließend ist NT 2000 eine revolutionäre Wafer-Prüf- und Metrologie-Ausrüstung, die Tests im Nanometermaßstab einfacher und zugänglicher macht. Das System ist in der Lage, die elektrischen Eigenschaften, Topographie und Größe von Nanostrukturen mit hoher Auflösung und Genauigkeit zu messen. Es bietet auch innovative Benutzeroberfläche und erweiterte Datenmanagement-Funktionen, so dass es eine ausgezeichnete Wahl für nanoskalige Forschung.