Gebraucht WYKO / VEECO NT 3300 #293645434 zu verkaufen

WYKO/VEECO NT 3300 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die Wafer mit Produktionsgeschwindigkeiten verarbeitet und analysiert und effiziente und genaue Wafertests ermöglicht. Es kann sowohl für planare als auch für 3D-Wafer-Dimensionsmessungen verwendet werden, einschließlich Oberflächen- und Seitenwandprofilmessungen, Topographiemessungen und Foliendickenmessungen. Das System ist für Prozesssteuerungsanwendungen wie Ätzrate, Planarität und Overlay konzipiert. Es verwendet eine berührungslose optische Interferometrie, um sowohl zwei- als auch dreidimensionale Oberflächenprofile präzise zu messen. Die Eigenschaften können von wenigen Nanometern bis zu einigen Mikrometern reichen. WYKO NT 3300 basiert auf einer robusten und zuverlässigen Softwareplattform und bietet eine integrierte Lösung mit verschiedenen Hardware- und Softwareoptionen. VEECO NT 3300 verfügt über eine schnelle Optikeinheit, die Profilscangeschwindigkeiten von bis zu 250 μ m/Sekunde ermöglicht, deutlich schneller als herkömmliche Methoden. Die Maschine verfügt auch über ein vollautomatisches Kalibrierwerkzeug und vollständige messtechnische Berichtsfunktionen. Es bietet eine breite Palette von messtechnischen Tools, wie schnelle Scan-Algorithmen, rauscharme Elektronik, hochpräzise Stufen, transmissive und reflektierende Optik und verbesserte Mustererkennung. Dieses Asset kann mehrere Samples pro Wafer gleichzeitig messen und verfügt über einen integrierten Datenspeicher, der bis zu 10 Wafer gleichzeitig speichern kann. NT 3300 bietet softwaregesteuerte Wafer-Handhabung, einschließlich Waferbewegung und Ausrichtung, sowie automatisierte Musterstufensteuerung und -mapping. Es bietet auch automatisierte Modelldiagnose, optimiertes Workflow-Management und anpassbare Berichtsgenerierung. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine integrierte Umweltkontrolle für eine gleichmäßige Temperaturleistung über mehrere Proben hinweg. Zusammenfassend ist WYKO/VEECO NT 3300 ein zuverlässiges und schnelles System für Wafertests und Messtechnik. Es verfügt über eine berührungslose optische Interferometrie, die Funktionen von wenigen Nanometern bis zu einigen Mikrometern messen kann, und eine schnelle Optikeinheit mit Abtastgeschwindigkeiten von bis zu 250 μ m/Sekunde. Es bietet auch erweiterten Workflow, bequeme Datenspeicherung und erweiterte Beispielverarbeitungsfunktionen. Es ist eine hochentwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die sich gut für Prozesskontrollanwendungen eignet.