Gebraucht WYKO / VEECO NT 3300 #9309117 zu verkaufen

WYKO/VEECO NT 3300 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für die elektrische, optische und mechanische Charakterisierung von Halbleiter- und MEMS-Bauelementen. Es ermöglicht die genaue Messung und Analyse einzelner Geräte auf einem Wafer oder einzelner Proben. Das Gerät verfügt über eine dreiachsige vertikale Bewegungsstufe (Z-Achse) und eine vierachsige horizontale Drehstufe (XYØ), die eine schnelle und präzise Wafer-Abbildung und Profilierung ermöglicht. Es bietet eine Reihe von Optionen für die hochauflösende Beispielzuordnung und -messung, einschließlich Punkt-für-Punkt-Profilierung, Bereichszuordnung, zeilenweise Zuordnung und Photoshop-Integration. Das System ist in der Lage, Materialeigenschaften wie Oberflächenrauhigkeit, Waferdicke und Oberflächentopographie sowie elektrische Eigenschaften wie Flächenwiderstand, Gerätekapazität und Leckstrom zu messen. Es verfügt auch über eingebaute Techniken für automatisierte Partikelzählung, fokussierte Ionenstrahlbildgebung, automatisierte Schritthöhenmessungen und automatisierte Überlagerungsmessungen. Das Gerät verfügt über eine intuitive, einfach zu bedienende Benutzeroberfläche, die eine Vielzahl von Optionen für den Datenexport und die Erstellung von Berichten wie HTML- und PDF-Formaten ermöglicht. Datenverarbeitungstools ermöglichen es Benutzern, Wafer- oder Gerätedaten im Detail zu quantifizieren, zu vergleichen, zu analysieren und zu visualisieren. Die Maschine bietet eine breite Palette von Optionen für die Anpassung, einschließlich der Integration mit anderen Testsystemen. Darüber hinaus verfügt das Tool über eine Reihe von erweiterten Automatisierungsfunktionen zur Optimierung der Einrichtung, zum Ausrichten von Funktionen und zum Initiieren wiederholbarer Tests. Es kann so eingestellt werden, dass es automatisch von einer Messung zur nächsten übergeht, so dass es in der Lage ist, automatisch bis zu 128 Wafer in einem einzigen Lauf zu testen. Insgesamt ist WYKO NT 3300 eine äußerst zuverlässige, präzise und effiziente Wafer-Test- und Messtechnik-Komponente, die in der Lage ist, umfassende Daten für eine breite Palette von Anwendungen bereitzustellen. Seine fortschrittlichen, automatisierten Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für automatisierte Wafer- und Gerätecharakterisierung.