Gebraucht WYKO / VEECO NT 3300 #9375264 zu verkaufen

WYKO/VEECO NT 3300 ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es wurde speziell für integrierte Schaltungen (IC) und Dünnschichtforschung und -entwicklung entwickelt und ist ein unschätzbares Werkzeug zur genauen Messung und Analyse kritischer Parameter im Zusammenhang mit IC-Geräteprozessen. WYKO NT 3300 kombiniert ein leistungsstarkes optisches Bildgebungs- und Analysesystem mit einer hochpräzisen, hochauflösenden 3-achsigen Positionierstufe. Die bildgebende Einheit verfügt über ein hochauflösendes Sensor-Array für sichtbares Licht und ein sekundäres Infrarot-Sensor-Array, mit dem Benutzer die Eigenschaften ihrer ICs in mehreren Stufen genau messen können. VEECO NT 3300 ermöglicht es den Anwendern, Reflektivität, Kontrast und Gleichmäßigkeit genau und zuverlässig zu messen, um Form, Oberfläche und andere hochpräzise Eigenschaften ihrer IC-Geräte zu bewerten und zu bewerten. Die 3-achsige Positionierstufe, die von einem separaten Bewegungsregler gesteuert wird, ist in der Lage, eine präzise Bewegungssteuerung bis zu 25um/sec durchzuführen. Dies ermöglicht präzise Echtzeitmessungen an mehreren Stellen zur präzisen Geräteleistungsauswertung. In Kombination mit den erweiterten Analysefunktionen von NT 3300 und dem leistungsstarken Softwarepaket können Anwender schnell und präzise umfassende Informationen über ihre IC-Geräte sammeln, analysieren und anzeigen. WYKO/VEECO NT 3300 verfügt neben seinen Funktionen zur Bildgebung und Bewegungssteuerung auch über eine branchenführende Wafer-Handhabungsmaschine. Der Wafer-Handler ist so konzipiert, dass er nahtlos integrierten Wafer-Transport ermöglicht, so dass Benutzer schnell Wafer wechseln können, ohne das Test- oder Abschaltwerkzeug zu stoppen. Auf diese Weise können Anwender ihren Test- oder Messtechnik-Prozess feinabstimmen oder optimieren, ohne den Produktionsfluss zu unterbrechen. WYKO NT 3300 ist ein außergewöhnlich vielseitiges und präzises Asset. Die Kombination aus hochpräziser 3-Achsen-Positionierstufe, leistungsstarker bildgebender Analytik und flexibler Wafer-Handhabung macht sie zu einem idealen Modell für die Auswertung und Optimierung von IC-Geräteprozessen. Die umfassende Analyse, Datenerfassung, Visualisierung und Berichterstattung machen es zu einem wertvollen Werkzeug für jedes IC-Forschungs- und Entwicklungslabor.