Gebraucht WYKO / VEECO NT 3300 #9394877 zu verkaufen

ID: 9394877
Weinlese: 2005
Optical profiler 2005 vintage.
WYKO/VEECO NT 3300 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für den Einsatz in der Halbleiterherstellung. Es verfügt über ein Rastermikroskop mit nanoskaliger Auflösung, das in der Lage ist, Bilder mit einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer zu erfassen, so dass Messungen mit einer hohen Präzision durchgeführt werden können. Das System umfasst auch eine automatisierte Mehrwinkel-Oberflächenprofil-Messeinheit, die es dem Benutzer ermöglicht, eine dreidimensionale Karte einer beliebigen Oberfläche zu erfassen. Neben den mikroskopischen Möglichkeiten verfügt WYKO NT 3300 auch über eine Reihe automatisierter Wafer-Testsysteme. Dazu gehören Systeme für kritische Maßmessungen, Topologieanalysen, Verschmutzungserkennung, Überlagerungsmessung und Kipp-/Rotationsmessungen. Die automatisierten Wafer-Prüfsysteme können mehrere Wafer gleichzeitig messen und die Zeit für die Durchführung von Prozesskontrollmessungen drastisch reduzieren. VEECO NT 3300 beinhaltet auch eine Kipp-/Drehstufe, die es dem Benutzer ermöglicht, Proben zu drehen oder zu kippen, um eine bessere Sicht auf die Oberfläche zu erhalten. Diese Funktion eignet sich besonders für Messungen an dreidimensionalen Proben wie MEMS oder HF/Mikrowellenkomponenten. NT 3300 verfügt über ein integriertes Softwarepaket zur Bildanalyse, das die Analyse der vom Mikroskop der Maschine erfassten Bilder automatisiert. Diese Bildanalyse-Software kann verwendet werden, um Fehler auf der Oberfläche von Wafern zu erkennen, so dass der Benutzer schnell alle Problembereiche identifizieren kann. WYKO/VEECO NT 3300 ist ein leistungsfähiges und effizientes Werkzeug für die Prozesskontrollmessung. Sein Mikroskop mit nanoskaliger Auflösung bietet detaillierte Bilder und Messungen, während seine Reihe automatisierter Wafer-Testsysteme es ermöglicht, mehrere Wafer in einem einzigen Arbeitsgang zu testen. Die integrierte Bildanalysesoftware ist auch ein nützliches Werkzeug zur Erkennung von Fehlern an Wafern. Die Neigungs-/Rotationsstufe verbessert die Fähigkeiten des Werkzeugs weiter, indem der Benutzer eine verbesserte Sicht auf komplexe Proben erhält.
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