Gebraucht WYKO / VEECO NT 8000 #183083 zu verkaufen

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ID: 183083
Optical profiler Win XP-Pro sp3 100um/sec Scan speeds, 8mm scan height Scan speed 1x,3x,11x,20x Three modes scan speed vsi, psi, evsi (enhance vsi) 200mm (8") scan stage computer control with encoders Motorize 4 position turret with auto detect Full automation with internal reference signal (laser guide) Enable self calibrating accuracy over the entire scan range Integrated air table Objectives: 5.0x fov 2.47x1.88 with .55x; 50.0x fov 0.25x0.19 with .55x 5.0x fov 1.24x0.94 with 1.0x; 50.0x fov 0.12x0.09 with 1.0x Including 10x lens Light source using fiber to eliminate thermal interference High speed auto focus, tip/tilt stitching optional (included) 2005-2006 vintage.
WYKO/VEECO NT 8000 ist eine leistungsstarke Messtechnik und Wafer-Prüfausrüstung, die entwickelt wurde, um eine verbesserte Genauigkeit und Wiederholbarkeit des Halbleiterherstellungsprozesses zu gewährleisten. Das System besteht aus vier Komponenten: einem maßgeschneiderten optischen Oberflächenprofiler (OSP), einem optikbasierten berührungslosen 3D-Oberflächenprofiler (NCSP), einem Messcontroller und einer Software-Suite zur Analyse und Berichtsgenerierung. Das OSP nutzt eine Lichtquelle mit niedriger Kohärenz, um zuverlässige Ergebnisse aus Oberflächenabtastmessungen zu liefern, während das NCSP eine temperaturgesteuerte, optische Einheit verwendet, um 3D-Oberflächenprofile zu messen. Beide verwenden eine Hochdruck-Hochvakuumkammer zur Probenkühlung und eine Vakuumkammer zur Waferbelastung. Der Messregler ist so konzipiert, dass er die Ergebnisse sowohl aus OSP als auch aus NCSP Systemen integriert, eine automatisierte Steuerung des Messvorgangs ermöglicht und hochpräzise Leistung liefert. Es bietet auch eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Benutzer ihre messtechnischen und Testanforderungen einfach konfigurieren können. Die WYKO NT 8000 Software Suite umfasst sowohl Datenerfassungsprozesse als auch Analysetools, mit denen Benutzer Daten schnell analysieren und präsentieren können. Die Suite umfasst erweiterte Funktionen wie Datenreduzierung und Fehlerkorrekturalgorithmen, so dass Benutzer die Messergebnisse genauer bestimmen können. Darüber hinaus bietet die Software-Suite eine automatisierte Berichtsgenerierung und -speicherung, die es Benutzern ermöglicht, die Leistungsergebnisse schnell zu überprüfen, zu berichten und auf diese zu reagieren. Insgesamt ist VEECO NT8000 Messtechnik und Wafer-Prüfmaschine eine ideale Wahl für Halbleiterhersteller und Forscher, die die Leistung und Genauigkeit erhöhen möchten. Durch die Kombination von optischem Oberflächenprofiler und berührungsloser 3D-Oberflächenbildgebung mit einer leistungsstarken und einfach zu bedienenden Suite von Software-Tools ermöglicht VEECO NT 8000 Anwendern die einfache Überwachung, Analyse und Optimierung ihrer Prozesse für maximale Effizienz und Leistung.
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