Gebraucht WYKO / VEECO NT 8000 #9309092 zu verkaufen
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ID: 9309092
Weinlese: 2005
Optical 3D surface profiler
With BASLER A311f Digital camera
Stitching and advanced analysis
Motorized nosepiece with objectives: 5x and 50x
Gail stage controller: 5-Axis
TMC Isolation table
DELL OptiPlex
Operating system: Windows XP
2005 vintage.
WYKO/VEECO NT 8000 ist ein leistungsfähiges Wafer-Prüf- und Messsystem zur Messung der elektrischen und physikalischen Eigenschaften von Halbleitern. Das System bietet eine Vielzahl von Rasteroptionen wie SEM-Rasterelektronenmikroskop, TEM-Transmissionselektronenmikroskop, AFM-Atomkraftmikroskop und FTIR Fourier transformieren Infrarotspektroskopie. Alle diese Scanoptionen ermöglichen erweiterte Messungen wie Stromdichtezuordnung, Kapazitätsspannung und Spannungsabbildung für erweiterte Waferdiagnosen. WYKO NT 8000 verfügt über eine großflächige Scankapazität von bis zu 200mm Größe mit bis zu 10µm Auflösung je nach Scanner und Anwendung. Dies macht es für die Prüfung und Messtechnik von großen Wafern optimiert. VEECO NT8000 bietet auch eine Vielzahl von analytischen Fähigkeiten. Waferdickelmessung, Oberflächenrauhigkeit und Topographie stehen zur Verfügung, auch Dunkelfeld-TEM-Bildgebung und chemische Analyse mit energiedispersiven Röntgenstrahlen sind erreichbar. WYKO/VEECO NT8000 verfügt über ein automatisiertes Probenhandhabungssystem, das eine schnelle und effiziente Wafertestung ermöglicht. Es kann konfiguriert werden, um eine Vielzahl von Substratgrößen und Behältertypen unterzubringen. Darüber hinaus gewährleistet eine einfache softwarebasierte Programmierbarkeit eine zuverlässige, automatisierte Analyse großer Chargen. NT 8000 wurde entwickelt, um genaue, wiederholbare Messungen zu ermöglichen. Seine hohe Geschwindigkeit, hohe Auflösung und hoher Durchsatz machen es zu einer idealen Lösung für schnelle und zuverlässige Wafertests und Messtechnik. Darüber hinaus können seine erweiterten analytischen Fähigkeiten zur Verbesserung der Prozessausbeute und -zuverlässigkeit verwendet werden.
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