Gebraucht WYKO / VEECO NT 8100 #9211301 zu verkaufen

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ID: 9211301
Optical profiling system Monitor: 27" Basler Vision: 3.6 Galil 8 x 8 Stage Operating system: Windows 7.
WYKO/VEECO NT 8100 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die speziell für die Qualitätskontrolle und Fehleranalyse in der Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Dieses System kombiniert eine automatisierte WYKO-Serie NanoScratch und horizontale Ablenkanalyse (HDA) mit dem optisch basierten VEECO Navi-Scan für 360 Grad Abdeckung. Es kann Waferoberflächeneigenschaften, Defekte und Partikelmesstechnik messen, analysieren und verfolgen. WYKO NT 8100 ist auf einem Tischplattendesign für einfachen Zugriff gebaut, und seine Hardwarekomponenten sind integriert, um konsistente Messungen und Analysen entlang der gesamten Waferoberfläche bereitzustellen. WYKO/VEECO Serie NanoScratch ist eine berührungslose Wafer Deformation Inspektionseinheit, die sowohl lange als auch kurze Spannungsschwankungen auf nanoskaligen Ebenen genau messen kann. Es kann Eigenschaften wie Oberflächenhaftung, Härte, Steifigkeit, Gleichmäßigkeit und Restspannung verfolgen. Die HDA-Maschine ermöglicht eine hochauflösende Abbildung einer Vielzahl von Strukturen und Merkmalen sowie eine detaillierte Analyse von Oberflächenschäden und anderen Defekten. WYKO Navi-Scan verwendet physikalisch basierte Bildgebungstechnologie, um Merkmale und Partikel in drei Dimensionen genau zu erfassen und so eine präzise Messtechnik der Partikeldichte, -größe und -form bereitzustellen. VEECO NT 8100 wird von VEECO Smart Tool Control Interface (SCI) gesteuert und bietet automatisierte Datenerfassung, Integration mit anderen Systemen und anspruchsvolle Analysetools für effiziente Leistung. Mit dem SCI können Benutzer Einstellungen anpassen, skriptbasierte mehrstufige Experimente einrichten und detaillierte benutzerdefinierte Berichte erstellen. Darüber hinaus ist der SCI mit gängigen Softwarelösungen wie Fab Operator und Fab Inspector kompatibel. Insgesamt bietet NT 8100 Asset eine umfassende Lösung für Wafer-Tests und Messtechnik, die die konsistente Produktion von qualitativ hochwertigen Halbleiterprodukten unterstützt. Mit seinem kompakten Design, der automatisierten Datenerfassung und einem breiten Spektrum an Analyse- und Messtechnikfunktionen ist dieses Modell ideal für eine effiziente und genaue Überwachung der Produktionsprozesse, Qualitätssicherung und Fehleranalyse.
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