Gebraucht WYKO / VEECO NT 9800 #9301086 zu verkaufen

WYKO / VEECO NT 9800
ID: 9301086
Weinlese: 2010
Profiling system (RDL) 2010 vintage.
WYKO/VEECO NT 9800 ist eine leistungsfähige Wafer-Prüf- und Messtechnik-Plattform, die Halbleiterherstellern helfen soll, die Eigenschaften ihrer Wafer und anderer Komponenten genau zu messen. Die Plattform kombiniert vollautomatische optische Inspektion, fortschrittliche 3D-Bildgebungstechniken und integrierte Messtechnik-Prozesse, um genaue Datenpunkte und zuverlässige Ergebnisse zu liefern. Zu den Hauptmerkmalen von WYKO NT 9800 gehören Hoch-/Niedergeschwindigkeits-Scanning, hochauflösende Messtechnik, erweiterte 3D-Bildgebungsfunktionen, automatisierte Probenhandhabungsfunktionen, erweiterte Bildgebungsanalysen, Datenerfassung mit hohem Durchsatz und automatisierte Geräteauswertung. VEECO NT 9800 bietet verschiedene Arten von messtechnischen Funktionen, einschließlich Kapazität, elektrischer Widerstand, Spannung, Mobilität und Profilmessungen. Das System ist in der Lage, unterschiedlichste Oberflächentopographien abzubilden, und verwendet dafür hochentwickelte Geräte wie Mehrkopfscanner und 3D-Bildgebungssysteme. Durch fortschrittliche 3D-Bildgebung können detaillierte Informationen wie kristalline Strukturen und feine topographische Merkmale genau abgebildet und analysiert werden. Darüber hinaus ist NT 9800 auch mit einem automatisierten Probenhandhabungssystem ausgestattet, das es ermöglicht, mehrere Wafer und Komponenten gleichzeitig zu verwalten. Mit Hilfe von Waferkassetten ermöglicht der Auto-Loader einen kontinuierlichen Probenfluss durch das System, da Wafer automatisch auf die Bearbeitungsspindeln geladen werden, wodurch mehrere Wafer schnell und genau getestet werden können. WYKO/VEECO NT 9800 verfügt über mehrere Scanoptionen, einschließlich Hoch- und Niedergeschwindigkeits-Scannen, was eine schnelle und detaillierte Charakterisierung eines Wafers oder einer Komponente ermöglicht. Der Hochgeschwindigkeits-Scan nutzt eine durchschnittliche Erfassungsrate von 1 Million Datenpunkten pro Sekunde und bietet eine konkurrenzlose Auflösung und Genauigkeit bei gleichzeitig extrem schneller Scanrate. Der Low-Speed-Scan hingegen ist für langsamere Scanzeiten optimiert und liefert eine detailliertere dreidimensionale Rekonstruktion der Probe unter dem Mikroskop. Schließlich bietet WYKO NT 9800 auch eine Datenerfassung mit hohem Durchsatz, die eine schnelle Erfassung und Analyse einer großen Anzahl von Wafern in einem einzigen Scan ermöglicht. Die durch diesen Prozess gewonnenen Daten können in Echtzeit-Geräteauswertungen verwendet werden, so dass Hersteller die Qualität und Eigenschaften ihrer Wafer und Komponenten schnell und genau beurteilen können. Abschließend ist VEECO NT 9800 eine hochentwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Plattform, die hochgenaue und zuverlässige Datenpunkte für Halbleiterhersteller liefert. NT 9800 ist eine leistungsstarke und vielseitige Plattform zur Analyse von Wafern und anderen Komponenten mit automatisierten Sampleverarbeitungsfunktionen, Hochgeschwindigkeits-Scanning, erweiterten 3D-Bildgebungsfunktionen und Datenerfassung mit hohem Durchsatz.
Es liegen noch keine Bewertungen vor