Gebraucht WYKO / VEECO SP 3000 W #9241021 zu verkaufen

ID: 9241021
Profiling system.
WYKO/VEECO SP 3000 W ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es ist für die genaue Untersuchung und quantitative Analyse von Dünnschicht-optischen Eigenschaften auf gemusterten und ungemusterten Wafern konzipiert. WYKO SP 3000 W besteht aus mehreren Komponenten, darunter eine WYKO 4-Zoll-Platte und eine VEECO 4-Zoll-Platte für Wafer-Handling-Funktionen, ein Low-Light-Benchtop-Photometer zur Messung von Dünnschicht-optischen Eigenschaften und eine automatisierte Software-Suite. WYKO/VEECO 4 Zoll Platte ist ein motorisiertes Wafer Handling System, das zuverlässige Pick-and-Place-Fähigkeit von der Kassette und auf WYKO 4 Zoll Platte bietet. Diese Platte kann eine breite Palette von Wafergrößen von 3,5 Zoll und 4 Zoll aufnehmen und bietet automatisiertes Löten, Kleben und Ausrichten mit der integrierten Vakuumeinheit. VEECO 4 Zoll Platte ist eine schwere Wafer Handhabungsmaschine, die präzise Ausrichtung, Bewegung, Geschwindigkeit und Druck bietet. Es kann bis zu zwanzig Wafer in einer Kassette behandeln und bietet Wafer-Proben-Mapping mit einem automatisierten Edge-Mapping-Tool und einem fotometrischen Ausrichtungsmechanismus zur Ausrichtung und Mustererkennung. Das lichtarme Benchtop-Photometer dient zur Messung von Dünnschichtoptiken auf Wafern. Dies ist ein präzise-mechanisches Instrument, das Laser und Spektroskopie verwendet, um Reflexion, Durchlässigkeit und Absorption von gemusterten und ungemusterten Oberflächen zu messen. Es kann auch die Oberflächenrauhigkeit messen und kann über ein Bedienfeld für den automatisierten Betrieb verwaltet werden. VEECO SP 3000 W bietet auch eine automatisierte Software-Suite, die automatisierte Messungen und Analysen ermöglicht. Diese Suite umfasst eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) zur Steuerung von Asset-Einstellungen, einschließlich Muster- und Wafer-Zuordnung, Kalibrierung und Datenanalyse. Es kann auch verwendet werden, um eine Vielzahl von Messungen in einem einzigen Bericht für einfache Anzeige und Druck zu kompilieren. SP 3000 W ist ein fortschrittliches Wafer-Prüf- und Messtechnikmodell, das eine zuverlässige und genaue Analyse der optischen Dünnschichteigenschaften auf gemusterten und ungemusterten Wafern bietet. Die motorisierten Wafer-Handling-Funktionen, optische Messgeräte und automatisierte Software-Suite machen es zu einer idealen Wahl für Forscher und Ingenieure, die ein umfassendes, intuitives und einfach zu bedienendes System suchen.
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