Gebraucht ZEISS Surfcom 130A #9091160 zu verkaufen

ZEISS Surfcom 130A ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für präzise und genaue Messungen von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Dieses System ist in der Lage, berührungslose und zerstörungsfreie Waferanalysen durchzuführen und bietet Benutzern die Möglichkeit, die geometrischen Eigenschaften eines Wafers genau zu überprüfen, zu überprüfen und zu messen. Surfcom 130A arbeitet mit fortschrittlichen optischen Techniken, um zweidimensionale Bilder der Oberfläche eines Halbleiterwafers zu erfassen. Diese Bilder werden verwendet, um präzise und zuverlässige Messungen der grundlegenden Eigenschaften des Wafers wie der Abstand zwischen Linien und anderen geometrischen Merkmalen zu erhalten. Das Gerät umfasst eine hochauflösende CCD-Kamera und eine fortschrittliche optische Bank, die es ermöglicht, zweidimensionale Bilder mit einer Auflösung von 0,9 µm zu erfassen, wodurch Benutzer Genauigkeit und Präzision bei der Inspektion und Messung von Halbleiterscheiben erhalten. ZEISS Surfcom 130A verfügt zudem über eine leistungsstarke und einfach zu bedienende Steuerungssoftware, mit der Anwender alle Maschinenparameter und Datenverwaltungsaufgaben steuern können. Mit dieser Software kann das Werkzeug an die Anforderungen der Anwender angepasst werden, was es zu einem vielseitigen und leistungsstarken Werkzeug für Wafertests und Messtechnik macht. Die Software ermöglicht es Benutzern auch, Messungen schnell und effizient einzuleiten, während eine Vielzahl von softwarebasierten Algorithmen und Methoden zur Verfügung stehen, die Anwendern die Möglichkeit bieten, erweiterte Messaufgaben wie Form- und Profilanalyse durchzuführen. Insgesamt bietet Surfcom 130A Anwendern eine leistungsstarke und genaue Lösung für die Analyse und Messung von Metall- und dielektrischen Wafern. Mit seiner fortschrittlichen optischen Bank, der hochauflösenden Optik und der leistungsstarken Software können Anwender sicher sein, dass ihre Wafermessungen präzise und zuverlässig sind. Diese Ressource bietet Anwendern die Flexibilität, eine breite Palette von Halbleiterscheiben zu analysieren und zu messen, wodurch sie sicher sind, dass ihre Messungen genau und präzise sind.